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2005 年度 実績報告書

糖鎖1分子のナノ力学刺激に対する応答ダイナミクスの研究

研究課題

研究課題/領域番号 17655097
研究機関北海道大学

研究代表者

岡嶋 孝治  北海道大学, 電子科学研究所, 助教授 (70280998)

研究分担者 古川 英光  北海道大学, 大学院・理学研究科, 助教授 (50282827)
キーワード原子間力顕微鏡 / 近接場動的光散乱法 / 1分子計測 / ダイナミクス / 1分子ナノ力学
研究概要

多糖類は、特異の立体規則性をもち、選択的な相互作用をする。この固有な性質により、細胞膜での認識機構や、細胞外マトリクスの主要物質であるなど、多糖類は、生体の階層構造の形成において、極めて重要な役割をしている。また、工業的には、分子選択機能性高分子や生分解性材料として活発に利用されている物質群である。本研究の目的は、原子間力顕微鏡法(AFM)と近接場動的光散乱法(NF-DLS)とを融合したナノ階層構造測定装置を開発し、多糖鎖のナノ力学刺激に対する高次構造体のキャラクタリゼーション法を確立することである。
本年度は、原子間力顕微鏡(AFM)の1分子計測法と動的近接場光散乱法(NF-DLS)とを用いたナノ階層構造測定装置の開発を進めた。AFMの計測系の開発は岡嶋が担当し、NF-DLSの開発は古川が担当した。AFM開発に関して、AFMを倒立型光学顕微鏡(既存)上に装着し、ナノ刺激および1分子延伸を行う制御系を確立した。AFMによる高分子ゲル中からの引き抜き実験を行った(投稿中)。この測定とNF-DLSとの融合を次年度進める。また、AFMの熱振動計測法を立ち上げ、ゲルや1分子のナノ力学刺激計測を行う技術を構築した。次年度は、熱振動計測法の高速化を行い、NF-DLSとの融合計測を実現する。一方で、本倒立型光学顕微鏡にレーザー光を導入する全反射光学系を立ち上げた。また、レーザートラップ法と光散乱法との融合計測装置の立ち上げを行っており、次年度は、AFMとレーザートラップとを組み合わせて、広い力領域の計測を行う。

  • 研究成果

    (8件)

すべて 2005

すべて 雑誌論文 (3件) 図書 (2件) 産業財産権 (3件)

  • [雑誌論文] Single Molecule Study of Polymer Gels by AFM2005

    • 著者名/発表者名
      T.Okajima, X.Tao, H.Tokumoto
    • 雑誌名

      GelSympo 2005

      ページ: 108-108

  • [雑誌論文] FM-mode AFM for Biological Imaging in Liquids2005

    • 著者名/発表者名
      T.Okajima, H.Tokumoto
    • 雑誌名

      13th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy Related Techniques

      ページ: 199-199

  • [雑誌論文] Nano-Manipulation and Imaging of Soft Materials with AFM2005

    • 著者名/発表者名
      Okajima Takaharu
    • 雑誌名

      International Symposium on Soft-Nanotechnology 2005 (ISSN 2005)

      ページ: 49-50

  • [図書] AFMによる液中イメージング(ソフトナノテクノロジー-バイオマテリアル革命-(分担))2005

    • 著者名/発表者名
      岡嶋孝治, 徳本洋志
    • 総ページ数
      336
    • 出版者
      シーエムシー出版
  • [図書] 現場で役立つバイオ機器の使い方・選び方 原子間力顕微鏡(AFM) (Bionics(バイオニクス))2005

    • 著者名/発表者名
      岡嶋孝治, 荒川秀雄
    • 総ページ数
      92
    • 出版者
      オーム社
  • [産業財産権] 分子計測装置および分子計測方法2005

    • 発明者名
      岡嶋孝治, 徳本洋志
    • 権利者名
      北海道大学
    • 産業財産権番号
      PCT/JP2005/012689
    • 出願年月日
      2005-07-08
  • [産業財産権] ゲル基板材料を用いた分子測定装置および分子測定方法2005

    • 発明者名
      岡嶋孝治, 徳本洋志
    • 権利者名
      北海道大学
    • 産業財産権番号
      PCT/JP2005/016422
    • 出願年月日
      2005-09-07
  • [産業財産権] 表面位置計測方法および表面位置計測装置2005

    • 発明者名
      岡嶋孝治, 田中賢, 徳本洋志
    • 権利者名
      北海道大学
    • 産業財産権番号
      PCT/JP2005/023633
    • 出願年月日
      2005-12-22

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公開日: 2007-04-02   更新日: 2016-04-21  

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