| 研究課題/領域番号 |
17H01713
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
計算機システム
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| 研究機関 | 京都大学 |
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研究代表者 |
佐藤 高史 京都大学, 情報学研究科, 教授 (20431992)
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| 研究分担者 |
廣本 正之 京都大学, 情報学研究科, 講師 (60718039)
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| 研究期間 (年度) |
2017-04-01 – 2020-03-31
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| キーワード | チップID / 経年劣化 / 集積回路設計 / 認証 / 暗号 |
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| 研究成果の概要 |
回路製造時のばらつきを利用して個体識別等に活用するチップID回路では、その応答が経時的に変化することは許されない。本研究では、トランジスタの経時変化の測定を通じて特性変動の要因を明らかとし、特性変動を考慮可能なデバイスモデルの作成と特性変動を考慮して回路設計が行える環境の構築を行った。また、作製した特性劣化モデルを活用し、特性が時間的に変化するトランジスタを用いても出力値の変動が生じにくいチップID回路を設計し、出力値の変動の予測や回路の劣化状態の観測を可能とした。
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| 自由記述の分野 |
集積回路工学
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
半導体回路の応用は広く、社会情報インフラの構築等、我々の生活において不可欠となっている。それ故に、半導体回路の突発的な故障は、致命的事象にも直結し得る。本研究で扱うチップID回路は、特性ばらつきをメリットと捉えてチップの個体識別等に活用する回路であり、安全な情報社会を実現するためのキーデバイスの一つである。特性変動を考慮したトランジスタモデルは、回路動作に伴う特性劣化の定量的評価、回路の個体識別、および模造品の指摘や故障の予知を可能とする技術等に広く活用できる。また、チップID回路等、特性変動に対し耐性の高い回路の設計が可能となるため、安全、安心な社会の創生に貢献する。
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