| 研究課題/領域番号 |
17H01716
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
計算機システム
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| 研究機関 | 九州工業大学 |
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研究代表者 |
温 暁青 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 教授 (20250897)
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| 研究分担者 |
梶原 誠司 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 教授 (80252592)
宮瀬 紘平 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 准教授 (30452824)
Holst Stefan 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 助教 (40710322)
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| 研究期間 (年度) |
2017-04-01 – 2021-03-31
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| キーワード | 計算機システム / 電子デバイス・機器 / ディペンダブル・コンピューティング / シフトエラー / IR-Drop / シフトタイミング / テストクロック / グルーピング |
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| 研究成果の概要 |
本研究では、高品質・高信頼な低電力LSIの創出に貢献するために、シフト電力の高精度抑制を特徴とするシフト電力安全型スキャンテスト技術（SPS-Scan）を確立した。主な成果として、（1）レイアウト等の設計情報に基づいた高精度シフト電力安全性評価方式、及び、GPUを用いた高速タイミングシミュレーション手法、（2）スキャンセグメント分割に伴う配線量増加を最小化する最適スキャンセグメント分割手法、（3）大規模論理コアと高精度遅延測定回路を搭載した評価用LSI回路の設計・試作がある。VDECを通じて試作したテストチップによる評価実験を行った結果、SPS-Scan技術の有効性が確認された。
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| 自由記述の分野 |
LSIテスト
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
携帯情報機器の心臓部にあたるLSIの低電力化が肝心であるが、低電力設計でLSIの機能電力を抑えても、製造欠陥の有無を調べるLSIテストの電力は高騰し、回路破壊や誤テストになることが多い。本研究では、従来技術では確保できないシフト電力安全性のために、スキャンセグメント型部分シフト可能スキャン設計と最適スキャンクロック分配という斬新なアプローチを確立し、低電力LSIテストの学術的裾野が広がった他、熾烈な国際競争中にある低電力LSI研究への波及効果も大きい。また、本研究の成果は、安全なLSIスキャンテストを可能にすることで高品質な低電力LSIの創出に欠かせない存在となり、高い産業的価値を有している。
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