| 研究課題/領域番号 |
17H01751
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
情報セキュリティ
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| 研究機関 | 東北大学 |
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研究代表者 |
曽根 秀昭 東北大学, データシナジー創生機構, 特任教授 (40134019)
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| 研究分担者 |
林 優一 奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 教授 (60551918)
水木 敬明 東北大学, サイバーサイエンスセンター, 准教授 (90323089)
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| 研究期間 (年度) |
2017-04-01 – 2021-03-31
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| キーワード | 情報システム / 情報セキュリティ / 電子デバイス・機器 / 暗号・認証等 / 耐タンパー技術 / 電磁情報セキュリティ / ハードウェアセキュリティ |
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| 研究成果の概要 |
情報通信機器への意図的な電磁妨害IEMIへの対策のため4つの課題を解いた。
妨害特性を決定するパラメタ及び被妨害コンポーネントについて、FPGAで故障時刻や内部の電気的変化を高精度に観測可能な環境構成を構築した。妨害によるIC内部からの出力を分析して故障が発生しやすい印加タイミングに関するリスク評価の知見を得た。妨害耐性評価について故障注入時の計測波形の解析に基づく手法を示し、波形の分解能は秘密鍵の取得性を向上させない知見を得て、また、放射電磁波情報漏えいを抑制可能な2値画像の設計を提案した。電磁妨害メカニズムに関し、暗号機器の処理の故障注入時刻を判定し秘密鍵解析リスクを評価する手法を実証した。
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| 自由記述の分野 |
情報通信工学
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
情報通信機器への意図的な電磁妨害(IEMI)のうち電力電磁環境と比べ3桁ほど小さい数V程度の意図的な電磁妨害による電磁的情報セキュリティの分野は本課題のチームが創って国内外で研究活動を先導している。暗号機器に非侵襲に一時的な故障を注入し、その誤り出力から暗号化の秘密鍵情報を取得できる。すなわち、機器の可用性は損なわず、機密性・完全性のみを低下させる脅威である。
本課題では、FPGAなどの暗号機器へのIEMI攻撃について妨害受容特性とメカニズムに迫ったもので、リスク評価と妨害特性評価の手法を示し、評価測定の方法を提案しており、電磁的情報セキュリティ対策に意義深い。
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