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2018 年度 実績報告書

自己停止酸化機構を利用した窒化物半導体低損傷加工プロセスの開発とトランジスタ応用

研究課題

研究課題/領域番号 17H03224
研究機関北海道大学

研究代表者

佐藤 威友  北海道大学, 量子集積エレクトロニクス研究センター, 准教授 (50343009)

研究分担者 本久 順一  北海道大学, 情報科学研究科, 教授 (60212263)
橋詰 保  北海道大学, 量子集積エレクトロニクス研究センター, 教授 (80149898)
研究期間 (年度) 2017-04-01 – 2020-03-31
キーワード窒化ガリウム / 電気化学プロセス / 低損傷エッチング / トランジスタ
研究実績の概要

AlGaN/GaNヘテロ構造に対する光電気化学(PEC)エッチング機構をバンド計算によりモデル化するとともに、本プロセスの低損傷加工特性を実証した。
ポアソン方程式に基づく計算機シミュレーションにより、電解液とAlGaN/GaNヘテロ構造界面近傍のポテンシャル分布計算を実施した。PECエッチング前は、AlGaN/GaN界面には分極により二次元電子ガス(2DEG)が生成しており、光照射により生成した電子が外部回路へ到達するためのチャネルとなっている。この電子の移動により電気化学酸化電流が流れるためAlGaN表面がエッチングされる。さらに、エッチングが進行してAlGaN層が薄くなった状態を計算すると、AlGaN層厚の減少とともに2DEG密度も現象しやがて電子のチャネルが消失し、この時エッチングが自己停止することが明らかとなった。自己停止するAlGaN層の厚さおよびエッチングレートは、入射光強度(フォトン数)に強く依存し、実験結果を定性的に説明することができた。
また、PECエッチング面に形成したSBDの電流ー電圧(IーV)特性は、ドライエッチング面と比べてリーク電流が少なく、得られるショットキー障壁高さもエッチング前と比べて変化なかった。さらに、種々のプロセスを施したGaN面にMISキャパシタを作製し、容量ー電圧(CーV)特性を比較した。ドライエッチング面では大きなヒステリシス特性を示したのに対し、PEC面ではヒステリシスの無い理想曲線にCーV特性が得られた。また、ドライエッチング面に対して重畳してPECエッチングを施したところ、ドライエッチングによるダメージ層が除去され、理想的CーV特性を示すことがわかった。ターマン法から界面準位密度分布を計算したところ、PEC面ではドライエッチング面の約1桁低い値を示した。これにより、光電気化学法の低損傷性が実証された。

現在までの達成度 (区分)
現在までの達成度 (区分)

2: おおむね順調に進展している

理由

理論および実験の両面からのアプローチにより、AlGaN/GaNの光電気化学エッチングの機構を説明することができた。さらに、自己停止機構によるナノメートルオーダーでのエッチング深さ制御を達成し、エッチング面のダメージ評価についても、定量的に評価することができた。よって、今年度目標としていた全ての項目について、当初の計画通りに順調に研究が進展したと言える。

今後の研究の推進方策

光電気化学エッチング法をAlGaN/GaN HEMTへ適用し、その優位性を明らかにするとともに、本手法を軸とした高信頼性ノーマリーオフ型パワートランジスタの実現に向けたデバイス作製プロセスを確立する。
(1) AlGaN/GaN構造に光電気化学エッチングを適用し、リセスゲートHEMTを完成させる。作製プロセスとして、最初にゲート部分をエッチングしリセス加工を施した後、素子分離用のドライエッチングとソース・ドレイン電極の形成を行い、最後にショットキーゲート電極を形成する。しきい値電圧とリセス深さとの相関を明らかにするとともに、リーク電流の電圧依存性、サブスレッショルド・スロープ(SS値)を評価する。
(2) AlGaN/GaN HEMTのリセスゲート部に絶縁膜を適用した絶縁ゲートHEMTを試作する。ゲート絶縁膜には、原子層堆積(ALD)法で形成される酸化アルミニウム(Al2O3)を用い、堆積後のアニールの有無やアニール温度の違いにより、素子の特性変化を評価する。ゲート絶縁破壊電圧やエミッション顕微鏡を用いたリーク電流部の可視化等を、上の(1)に加えて評価する。
(3) AlGaN/GaN HEMTより大きな耐圧が期待される、AlGaInN/AlGaN HEMTのリセスゲート加工に取り組む。はじめに、AlGaN/GaN構造で開発したエッチングストップ現象をAlGaInN/AlGaN構造でも利用可能か、電気化学的基礎特性の評価により見極める。エッチング面のラフネスを原子間力顕微鏡(AFM)により評価し、AlGaN/GaN構造の結果と比較しながら、条件を最適化する。これにより、様々な窒化物ヘテロ構造へ適用可能とする光電気化学エッチング法を確立する。

  • 研究成果

    (18件)

すべて 2019 2018 その他

すべて 雑誌論文 (2件) (うち査読あり 2件、 オープンアクセス 2件) 学会発表 (14件) (うち国際学会 7件、 招待講演 3件) 備考 (2件)

  • [雑誌論文] Simple wet-etching technology for GaN using an electrodeless photo-assisted electrochemical reaction with a luminous array film as the UV source2019

    • 著者名/発表者名
      Horikiri Fumimasa、Fukuhara Noboru、Ohta Hiroshi、Asai Naomi、Narita Yoshinobu、Yoshida Takehiro、Mishima Tomoyoshi、Toguchi Masachika、Miwa Kazuki、Sato Taketomo
    • 雑誌名

      Applied Physics Express

      巻: 12 ページ: 031003~031003

    • DOI

      10.7567/1882-0786/ab043c

    • 査読あり / オープンアクセス
  • [雑誌論文] Effects of a photo-assisted electrochemical etching process removing dry-etching damage in GaN2018

    • 著者名/発表者名
      Matsumoto Satoru、Toguchi Masachika、Takeda Kentaro、Narita Tetsuo、Kachi Tetsu、Sato Taketomo
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 57 ページ: 121001~121001

    • DOI

      10.7567/JJAP.57.121001

    • 査読あり / オープンアクセス
  • [学会発表] Low-damage wet etching for AlGaN/GaN recessed-gate HEMTs using photo-electrochemical reactions2019

    • 著者名/発表者名
      K. Uemura, Y. Komatsu, and T. Sato
    • 学会等名
      11th International Symposium on Advanced Plasma Science and its Applications for Nitride and Nanomaterials
    • 国際学会
  • [学会発表] Electrochemical characterization of etching damage induced to n-GaN surface2019

    • 著者名/発表者名
      K. Takeda, M. Toguchi, and T. Sato
    • 学会等名
      11th International Symposium on Advanced Plasma Science and its Applications for Nitride and Nanomaterials
    • 国際学会
  • [学会発表] GaNの光電気化学(PEC)エッチングが有する可能性②コンタクトレスでのエッチング2019

    • 著者名/発表者名
      堀切文正,福原昇,太田博,浅井直美,成田好伸,吉田丈洋,三島友義,渡久地政周,三輪和希,佐藤威友
    • 学会等名
      第66回応用物理学会春季学術講演会
  • [学会発表] ペルオキソ二硫酸イオン(S2O82-)含有電解液におけるGaNの電気化学特性2019

    • 著者名/発表者名
      渡久地政周, 三輪和希, 堀切文正, 福原昇, 成田好伸, 吉田丈洋, 佐藤威友
    • 学会等名
      第66回応用物理学会春季学術講演会
  • [学会発表] AlGaInN/AlGaNヘテロ構造の光電気化学エッチング2019

    • 著者名/発表者名
      小松祐斗、植村圭佑、佐藤威友
    • 学会等名
      第66回応用物理学会春季学術講演会
  • [学会発表] Precisely-controlled etching of gallium nitride utilizing electrochemical reactions2018

    • 著者名/発表者名
      T. Sato and M. Toguchi
    • 学会等名
      Nanotech Malaysia 2018
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Control of Pore Depth in GaN Porous Structures Utilizing a Photoabsorption Process Under below-Bandgap Illumination2018

    • 著者名/発表者名
      M. Toguchi, S. Matsumoto, and T. Sato
    • 学会等名
      233rd ECS Meeting
    • 国際学会
  • [学会発表] Electrochemical Formation and Application of Porous Gallium Nitride2018

    • 著者名/発表者名
      T. Sato and M. Toguchi
    • 学会等名
      Americas International Meeting on Electrochemistry and Solid State Science (AiMES 2018)
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Low-damage Etching for GaN-based Electronic Devices utilizing Photo-electrochemical Reactions2018

    • 著者名/発表者名
      T. Sato
    • 学会等名
      4th Intensive Discussion on Growht of Nitride Semiconductors
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Effect of Photo-electrochemical Etching and Post-metallization Annealing on Gate-controllability of AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistors2018

    • 著者名/発表者名
      K. Uemura, M. Deki, Y. Honda, H. Amano, and T. Sato
    • 学会等名
      International Workshop on Nitride Semiconductors 2018 (IWN2018)
    • 国際学会
  • [学会発表] 電気化学インピーダンス法を用いたn-GaN加工表面の評価2018

    • 著者名/発表者名
      武田健太郎, 渡久地政周,佐藤 威友
    • 学会等名
      第79回応用物理学会秋季学術講演会
  • [学会発表] Recessed-gate AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistors (HEMTs) Prepared by Photo-electrochemical Etching and Post-metallization Annealing2018

    • 著者名/発表者名
      K. Uemura, M. Deki, Y. Honda, H. Amano, and T. Sato
    • 学会等名
      第79回応用物理学会秋季学術講演会
  • [学会発表] 窒化ガリウム加工基板に対する選択的光電気化学エッチングの検討”2018

    • 著者名/発表者名
      渡久地政周, 武田健太郎, 佐藤威友
    • 学会等名
      2018 年 電気化学秋季大会
  • [学会発表] AlGaN/GaNへテロ構造トランジスタを基盤とする高感度化学センサの検討2018

    • 著者名/発表者名
      小松祐斗、植村圭佑、渡久地政周、佐藤威友
    • 学会等名
      2018 年 電気化学秋季大会
  • [備考] 北海道大学量子集積エレクトロニクス研究センター 電気化学グループ

    • URL

      http://hydrogen.rciqe.hokudai.ac.jp/~taketomo/ec/index.html

  • [備考] 北海道大学量子集積エレクトロニクス研究センター

    • URL

      http://www.rciqe.hokudai.ac.jp

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公開日: 2019-12-27  

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