本研究では、測定範囲Φ800 mmで、平面から数m程度までの曲率を持つ表面形状をナノメートルレベルの絶対精度で測定できる形状測定機を世界で初めて開発に成功した。従来ライン形状に限定された測定装置に試料回転ステージを搭載し、放射状に取得した各ライン形状から三次元形状を算出するシステムを構築した。また、ペンタゴンミラーを利用して角度測定ビームを垂直入射させていた為、透明材料を測定対象とする場合、裏面からの反射ビームが測定ビームと重なってしまい、測定不能となる領域が存在する。そこで、裏面反射ビームを空間的に分離する斜入射光学系システムDual mirror pair (DMP)も開発した。
|