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2019 年度 実績報告書

表面平坦ナノギャップ試料と分子架橋を用いた単分子素子の機能発現機構の解明

研究課題

研究課題/領域番号 17K05066
研究機関国立研究開発法人物質・材料研究機構

研究代表者

長岡 克己  国立研究開発法人物質・材料研究機構, 国際ナノアーキテクトニクス研究拠点, 主任研究員 (80370302)

研究期間 (年度) 2017-04-01 – 2020-03-31
キーワードナノギャップ / 走査トンネル顕微鏡 / 単分子素子
研究実績の概要

本研究の目的は、単分子素子における、分子と電極の接合状態、接合分子の電子状態、そして、それらから予想される伝導特性の相関関係を明らかにすることである。これは単分子素子の研究における本質的な課題であるが、まだ、分子と電極の接合状態、接合分子の電子状態を実際に測定した報告例がない。しかしながら、単分子素子に有用な素子機能を出現させるためには、系の非対称性が必須であると考えた。
そこで、まず、すでに作製法を確立したBiのナノギャップ電極間に非対称分子を架橋する方針で研究を行った。そして、4個の炭素六員環がY字状に配列した、トリフェニレンの単分子架橋を仮定し、その伝導特性の計算を行った。その結果、この系に関しては、架橋分子の両端で大きく接合状態を変化させても、分子内に非対称な電子状態、特に、HOMO軌道とLUMO軌道を空間的に分離させるほどの影響は出ないことが示された。
次に、「系の非対称性」を実現するために、異種材料で電極を作ることを検討した。そして、その候補として、窒素添加LaB6薄膜を検討した。その結果、本材料は、低い仕事関数(2.35eV)と、高い化学的安定性(大気暴露後でも、500℃で清浄化)、高い形状の自由度(RFスパッタにより製膜可)を有することがわかった。現在、当該薄膜の構造解析、そして、化学的安定性の起源解明を行っている。
今後、窒素添加LaB6の低被覆薄膜(<1ML)を準備し、そこに、Biアイランドを成長させ、異種電極間に単分子架橋を作製したいと考えている。

  • 研究成果

    (5件)

すべて 2019

すべて 雑誌論文 (2件) (うち査読あり 2件) 学会発表 (3件) (うち国際学会 3件)

  • [雑誌論文] Mechanism of field-induced manipulation of Cu-phthalocyanines on a Bi surface using scanning tunneling microscope2019

    • 著者名/発表者名
      Yaginuma Shin、Nagaoka Katsumi、Nakayama Tomonobu
    • 雑誌名

      Journal of Molecular Structure

      巻: 1181 ページ: 563~567

    • DOI

      https://doi.org/10.1016/j.molstruc.2018.12.094

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Scanning tunneling spectroscopy study of 20 nm-thick nitrogen-doped lanthanum hexaboride thin film2019

    • 著者名/発表者名
      Nagaoka Katsumi、Hayami Wataru、Ohmi Shun-ichiro
    • 雑誌名

      Vacuum

      巻: 170 ページ: 108973~108973

    • DOI

      https://doi.org/10.1016/j.vacuum.2019.108973

    • 査読あり
  • [学会発表] Work Function and Electronic Structure Measurements on Nitrogen-Doped LaB6 Thin Film by Scanning Tunneling Microscope2019

    • 著者名/発表者名
      K. Nagaoka, S. Ohmi
    • 学会等名
      20th International Vacuum Electronics Conference
    • 国際学会
  • [学会発表] Work function and electronic structure measurements on nitrogen-doped LaB6 thin film prepared by RF sputtering deposition2019

    • 著者名/発表者名
      K. Nagaoka, S. Ohmi
    • 学会等名
      International Symposium on Sputtering and Plasma Processes 2019
    • 国際学会
  • [学会発表] Work Function and Electronic Structure Measurements on Nitrogen-doped Lanthanum Hexaboride (LaB6) Thin Film by STM2019

    • 著者名/発表者名
      K. Nagaoka, S. Ohmi
    • 学会等名
      3rd International Conference on Applied Surface Science
    • 国際学会

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公開日: 2021-01-27  

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