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(1)温度制御型チューナブル波長選択フィルタ（TO-BPF）の光学モニタ技術の改良
■多層膜TO-BPF成膜時の光学膜厚モニタ系を（従来の１系統から）2系統に増やし，多キャビティ成膜時に従来より多くの情報を得る目的で，ツインTECファイバ（2本のTECファイバを１穴フェルールに固定した部品）を試作し，その動作確認を行った．穴直径250μm強のフェルールに，ビーム直径30μmのTECファイバ2本を接着固定し，フェルール先端を光学研磨した．さらに広帯域光源と光スペアナを用い，石英基板にフェルールを接触させたとき，２系統別々に反射スペクトル測定した．その結果２系統において従来と同様の反射スペクトルを得るには，研磨方法や接触方法に従来と異なる工夫が必要である実験的知見を得た．
(2)赤外波長域（0.8～14μm）にわたる光学定数の高精度評価
■近赤外波長域（0.7～1.7μm）の光学定数評価測定を行うため，近赤外分光光度計を活用した分光エリプソの構築を試みた．入射光が円形かつ平行ビームとなるように補正し，さらに偏光素子を導入して透過光や反射光の偏光状態を（可視光波長と近赤外波長のそれぞれで）測定した．実験の結果，分光光度計では近赤外波長域(NIR)の入射光強度が可視光波長域のそれより3桁低いことがエリプソ出力パラメータのΔの大きな誤差につながることが判明した．よって分光光度計のNIR入射光強度を増やす工夫さえできれば，分光エリプソへの適用可能性を見込めると考える．
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