| 研究課題/領域番号 |
17K06430
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| 研究機関 | 長崎大学 |
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研究代表者 |
藤村 誠 長崎大学, 工学研究科, 准教授 (30229041)
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| 研究分担者 |
今村 幸祐 金沢大学, 電子情報通信学系, 准教授 (00324096)
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| 研究期間 (年度) |
2017-04-01 – 2020-03-31
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| キーワード | 画像電子透かし / 画像検索 |
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| 研究実績の概要 |
(1)複数電子透かし方式による埋め込み方式による実験システムの試作
平均値攻撃後の電子透かし残存条件を調査した。埋め込み方法としては、画像上の埋込位置を指定可能である必要があるため、画像を離散ウェーブレット変換したHL、HH、LHの各係数の組み合わせでビットを表現する方法を用いた。埋め込んだ透かし情報の残存条件の調査のため、複数の画像間で同一位置に同一透かし情報を埋め込んだ場合と異なる位置に同一透かし情報を埋め込んだ場合で相違を比較した。画像の異なる位置に埋め込まれた情報は平均値攻撃を受けた場合、平均値をとる画像枚数が増えると埋め込んだ透かし情報が予想より早く劣化していくことが分かった。一方、同一位置に埋め込んだ情報の場合、平均値をとる画像枚数が増えても埋め込み情報が残存可能であることを確認した。以上より、埋め込み情報を分割し優先度を設定し、優先度が高い部分は画像の同一位置に埋め込むような工夫をすれば、優先度が高い埋め込み情報については平均値攻撃後にも残存可能であると考えられる。
(2)高速かつ簡易な画像検索アルゴリズムによる実験システムの試作
高速かつ簡易な画像検索アルゴリズムの適用については、2段階検索手法において検索対象画像への多様な画像処理の対処を提案した。2段階検索のうち前段探索処理において、コーナー特徴点を用いて探索を行うことによって、切り抜き画像に対する検索処理も可能とし、さらに検索処理に要する計算量削減のために、コーナー特徴点の画素値のみで類似度判定が可能である。
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| 現在までの達成度 (区分) |
現在までの達成度 (区分)
3: やや遅れている
理由
(1)複数電子透かし方式による埋め込み方式による実験システムの試作
実験システムの試作について若干遅れが生じている。具体的には埋め込み情報の検討などについて遅れが生じている。
(2)高速かつ簡易な画像検索アルゴリズムによる実験システムの試作
実験システムの試作については特に問題は生じていない。
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| 今後の研究の推進方策 |
(1)複数電子透かし方式による埋め込み方式による実験システムの試作
埋め込み情報の検討については人員を加えて実験システムの試作の進捗速度を速めるようにする。また、これ以外の部分については、計画に沿って透かし情報を埋め込んだテスト画像についての攻撃耐性を調査し研究を進める予定である。
(2)高速かつ簡易な画像検索アルゴリズムによる実験システムの試作
当初の計画通り、これまで提案した画像検索技術を踏まえて画像への適用を検討し、総合的な電子透かし用画像検方式としての確立を図る予定である。
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| 次年度使用額が生じた理由 |
研究に使用するソフトウェアMatlabのライセンス更新のタイミングが3月直後となるため、該当予算額を用いて平成31年度に更新する予定である。
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