高純度酸化ガリウム焼成体を作製し、電気伝導度の酸素分厚依存性を測定し、併せて透過電子顕微鏡による組織観察を行った。酸化ガリウム焼成体は酸素分圧を低くすると電気伝導度が増加するというn型酸化物半導体の性質を示したが、酸素分圧が10の-5乗を境として酸素分圧依存性が変化し、それよりも高い酸素分圧の場合は2価に帯電した格子間ガリウムイオン、それよりも低いときは依存性が小さくなったが格子欠陥の種類は分からなかった。実験後の試料中には非常に高密度の刃状転位が観察され、点欠陥やその会合だけでなく、転位のような線欠陥からのキャリア生成も考慮する必要があることが示された。
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