走査型透過電子顕微鏡 (STEM)法は微小な格子変形が直視できるようになり,材料の原子レベルでの構造解析において有効な手法である。 多くの機能性材料において物性発現サイズがナノスケールとなりピコメートルオーダーによる原子位置の計測が必要不可欠な技術となりつつある。本研究では、この実空間での材料解析においてSTEM法を用いたピコメートルスケールの微小原子変位計測手法を構築した。そして、その応用として画像解析によって初めて認識可能な10 pm以下陽イオン変位を解析することでチタン酸バリウム薄膜中に特異なドメイン構造を形成していることを明らかにした。
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