研究課題/領域番号 |
17K14431
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研究種目 |
若手研究(B)
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配分区分 | 基金 |
研究分野 |
物理化学
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研究機関 | 東京大学 |
研究代表者 |
廣井 卓思 東京大学, 大学院理学系研究科(理学部), 助教 (20754964)
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研究期間 (年度) |
2017-04-01 – 2019-03-31
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キーワード | 電子状態 / 電子衝突イオン化 / 強光子場科学 / 電子衝撃励起 |
研究成果の概要 |
フェムト秒の時間分解能での分子の幾何学的構造及び分子の電子波動関数の測定のために、二つの独立した飛行時間型分析器を用いた電子衝撃イオン化観測装置を自作し、超短パルスレーザー存在下における、希ガス及び水素分子からの電子散乱及び電子衝撃イオン化の測定を行った。当初の目標の一つであった弾性散乱電子の一光子吸収の測定に成功した他、電子衝撃励起に続く多光子イオン化過程の測定にも成功し、本装置が分子の高励起振電状態や前期解離のダイナミクスの研究へ応用できることが明らかとなった。
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自由記述の分野 |
物理化学
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研究成果の学術的意義や社会的意義 |
本研究で製作した電子衝撃イオン化の観測装置は、パルス電子線を用いた装置としては世界最高の検出効率を達成しており、電子衝撃イオン化を時間分解測定へ応用する上で学術的に重要な研究であると考えている。また、本研究では気相の原子や分子に対する電子散乱過程の時間分解能の限界として考えられていたピコ秒の壁を破る一つの方法を提案した。本研究を進めることによって、フェムト秒の時間スケールで起こる化学反応について、分子の幾何学的な構造のみならず電子状態も含めて時間領域で観測することが可能になると考えている。
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