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本研究では組み合わせ回路の遅延時間によってフリップフロップで生じた放射線起因のエラー（ソフトエラー）の除去効果を重イオンの照射実験を用いて実測にて確認を行った。その結果、組み合わせ回路の遅延時間がクロック周期の大部分を占める480MHzの動作周波数の時には500kHzの動作周波数と比較して2倍から4倍のエラー耐性を実現することを確認した。
また、ガードゲート構造を利用した新しい耐放射線フリップフロップの提案を行った。重イオンの照射実験の結果、マスターラッチのエラー耐性が100倍に向上することを確認した。
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