本研究は宇宙マイクロ波背景放射(CMB)の円偏光の測定感度の向上を目的としたものである。CMB直線偏光偏光実験のデータから円偏光の情報を引き出すために、直線偏光測定で使われる半波長板の特性理解に焦点を当てた研究を進めてきた。特に、半波長板の特性測定実験のデータを再解析し、直線偏光と円偏光が交わる成分の推定を行った。過去実験の再解析によりCMB円偏光の測定にこれまでにない感度での測定を実現できる見通しが立った。さらに、1/4波長板の開発を進めることにより、将来の実験計画のための基礎的な研究も行った。最初の試作品が完成し、想定通りの初期特性評価結果を得ることができた。
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