研究課題
基盤研究(S)
本研究は材料作製に効率よくフィードバックできる実験室仕様の薄膜小角X線散乱-分光同時測定システムを開発することにより、高分子ミクロ相分離構造形成を"なすがまま"から"思い通り"の自己組織化プロセスに進化させ、膨大な探索実験に代わるナノ構造製膜プロセスの効率よい最適化と指導原理を導くものである。
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