研究課題
基盤研究(S)
本研究では、「埋もれた界面」構造を研究室レベルで評価できる高性能X線CTR散乱装置を開発し、一般に利用できる装置を構築した。界面構造の形成過程を「その場」で明らかにし、界面構造がデバイスに与える意味を明確に把握した。界面構造を制御し、デバイスの高性能化において、「界面構造制御」という新たな切りロを開拓した。
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すべて 雑誌論文 (14件) (うち査読あり 14件) 学会発表 (11件) 備考 (1件)
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