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2006 年度 実績報告書

ナノ電極を用いた走査型電気化学顕微鏡

研究課題

研究課題/領域番号 18350041
研究機関福井大学

研究代表者

青木 幸一  福井大学, 工学研究科, 教授 (80142264)

研究分担者 陳 競鳶  福井大学, 工学研究科, 助教授 (50311676)
西海 豊彦  福井大学, 工学研究科, 助手 (10377476)
キーワード走査プローブ顕微鏡 / ナノ材料 / 表面界面物性 / メゾスコピック系 / 可視化
研究概要

ナノ電極は、ナノメートルの大きさが溶液中に露出するよう、電極を高分子膜で被覆したものである。走査型電気化学顕微鏡(SECM)では、測定基盤と端子との間に流れるファラデニ電流を測定する。この研究では、2つの特徴を活かせるナノ電極作製技術を開発し、電流の測定法およびその解析法を確立する。具体的には、ボルタンメトリとして用いられてきたナノ電極を、SECM用電極として用いる。この種の電極の量を作るために、従来の方法を幾分改良する。作製過程の主たる手順は、(i)タングステン線を30μmの白金線に溶着とガラス管に封入、(ii)白金先端部の電気化学的エッチング、(iii)エッチングした白金先端部をポリアクリル酸中で電気化学的重合、(iv)電気炉で加熱・徐冷、(V)過程(iii)と(iV)の繰り返しである。(i)と(ii)の後に先端部をガラスに封入、(Vi)先端の顕微鏡下での研磨、(Vii)電気化学的測定することに表面の削りだし。電極の露出部が1μm以下になると顕微鏡での観察はできない。電極の存在と大きさは電気化学測定によって求める。1mMのフェロセン溶液中における拡散律速電流を測定することにより、1=4FcDaから電極半径aを求める(Dはフェロセンの拡散係数)。微小電極で得られた定常電流電位曲線に半波電位と電極半径の対数から、電極反応速度パラメータ(移動係数および反応速度定数)の平均値および補正した電極半径を求める。拡散電流によって測定した電極半径は、電極が小さくなるにつれて電極反応する実表面半径より大きく測定されることを見出している。SECMを大まかに設置する。ナノ電極の露出部がどの辺りにあるのか、見当をつけるためである。高分子を被覆した後、過熱により収縮させるので、どの部分が露出しているのかわからない。そこで、SECMの測定台に大きさと幾何学がわかっているマイクロメートル電極を置く。作製したナノ電極をSECM用電極として、鉛直方向に対してさまざまな角度で設置した。

  • 研究成果

    (5件)

すべて 2007

すべて 雑誌論文 (5件)

  • [雑誌論文] Size-dependent efficiency of electron transfer at suspended ferrocenyl jumbo particles2007

    • 著者名/発表者名
      L.Han, J.Chen, K.Aoki
    • 雑誌名

      J.Electroanal.Chem. 602

      ページ: 123-130

  • [雑誌論文] Asymmetric redox reactions of C_3-symmetric starburst compound with six arylamines2007

    • 著者名/発表者名
      M.M.Abdul, T.Nishiumi, K.Aoki
    • 雑誌名

      J.Electroanal.Chem. 601

      ページ: 139-147

  • [雑誌論文] Adsorption force of polyaniline-coated polystyrene latex particles2007

    • 著者名/発表者名
      Q.Ke, K.Aoki
    • 雑誌名

      J.Colloid Interface Sci. 305

      ページ: 40-45

  • [雑誌論文] Colloidal submicron-palladium particles stabilized with acetate.2007

    • 著者名/発表者名
      K.Aoki, Y.Zhao, J.Chen
    • 雑誌名

      Electrochim. Acta 52

      ページ: 2485-2491

  • [雑誌論文] Voltammetry of suspensions of hollow particles with ferrocene-immobilized polyallylamine shell2007

    • 著者名/発表者名
      J.Chen, K.Aoki, T.Nishiumi, T.Li
    • 雑誌名

      Langmuir, 22

      ページ: 10510-10514

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公開日: 2008-05-08   更新日: 2016-04-21  

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