| 研究概要 |
電子線を試料に照射し,試料方位を変える際の特性X線の強度変化を測定することにより,原子の三次元配置を記録したホログラムを測定できる"電子線励起X線ホログラフィー"を提案した.本研究では,SrTiO_3単結晶に6keVの電子ビームを照射し,得られたTi Kのホログラムから,フーリエ変換により近接のSr及びTi原子を再生することに成功した.また,原子分解能ホログラフィー技術の最先端の応用として,混晶材料である気希薄磁性半導体Zn_<0.4>Mn_<0.6>Te及形状記憶合金Ti_<50>Ni_<44>Fe_6の局所的な格子歪みを,X線ホログラフィー用いて評価した.
|
