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2008 年度 研究成果報告書

3次元電子線トモグラフィによる亀裂先端転位群の立体構造解析

研究課題

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研究課題/領域番号 18360305
研究種目

基盤研究(B)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 金属物性
研究機関九州大学

研究代表者

東田 賢二  九州大学, 大学院・工学研究院, 教授 (70156561)

研究分担者 金子 賢二  九州大学, 大学院・工学研究院, 准教授 (30336002)
連携研究者 野口 博司  九州大学, 大学院・工学研究院, 教授 (80164680)
森川 龍哉  九州大学, 大学院・工学研究院, 助教 (00274506)
荒牧 正俊  九州大学, 大学院・工学研究院, 助教 (50175973)
研究期間 (年度) 2006 – 2008
キーワードクラック / 電子線トモグラフィ / 転位
研究概要

近年金属材料分野への応用が始まった電子線トモグラフィ法は, 主に吸収コントラストを用いた観察に限られてきたため, 回折コントラストを用いて結像させる転位のトモグラフィ観察は難しい状況にあった. そのような中で本研究では, 試料の回転軸と回折ベクトルを供に亀裂進展方向と平行になるよう制御し, 連続傾斜像取得中に転位のコントラストを一定に保つことで, 亀裂先端転位群のトモグラフィ観察を行い, 亀裂先端転位の三次元構造を明らかにした.

  • 研究成果

    (18件)

すべて 2008 2007 2006

すべて 雑誌論文 (8件) 学会発表 (10件)

  • [雑誌論文] 材料の破壊靭性に対する微視的アプローチ2008

    • 著者名/発表者名
      東田賢二, 田中將己
    • 雑誌名

      組成と加工 49

      ページ: 19-23

  • [雑誌論文] Three-dimensional observation of dislocations by electron tomography in a silicon crystal2008

    • 著者名/発表者名
      M. Tanaka, M. Honda, M. Mitsuhara, S. Hata, K. Kaneko and K. Higashida
    • 雑誌名

      Mater. Trans. 49

      ページ: 1953-1956

  • [雑誌論文] Crack Tip Dislocations Revealed by Electron Tomography in Silicon Single Crystal2008

    • 著者名/発表者名
      M. Tanaka, K. Higashida, K. Kaneko, S. Hata and M. Mitsuhara
    • 雑誌名

      Scripta Materialia 59

      ページ: 901-904

  • [雑誌論文] Crack tip dislocations and its shielding effect2007

    • 著者名/発表者名
      M. Tanaka, Y. Hoshino, A. Hartmaier, K. Higashida
    • 雑誌名

      Mater.Sci. Forum561-565

      ページ: 1833-1836

  • [雑誌論文] 高傾斜3軸試料ホルダーを用いたSi単結晶中の転位の3D観察2007

    • 著者名/発表者名
      波多聰, 宮崎裕也, 田中將己, 東田賢二
    • 雑誌名

      まてりあ 46

      ページ: 785

  • [雑誌論文] Orientation dependence of fracture toughness measured by indentation ethods and its relation to surface energy in single crystal silicon2006

    • 著者名/発表者名
      M. Tanaka, K. Higashida, H. Nakashima, H. Takagi and M. Fujiwara
    • 雑誌名

      Int. J. Fracture 139

      ページ: 683-394

  • [雑誌論文] Si結晶中のき裂先端転位とその内部応力場の赤外光弾性法による可視化2006

    • 著者名/発表者名
      東田賢二, 田中將己, 星野由美
    • 雑誌名

      材料開発のための顕微鏡法と応用写真集,(日本金属学会編)

      ページ: 186

  • [雑誌論文] Crack Tip dislocations Observed by High-Voltage Electron-Microscopy in Single Crystal Silicon2006

    • 著者名/発表者名
      K. Higashida and M. Tanaka
    • 雑誌名

      Proceedings of 16th International Microscopy Congress, Publication committee of IMC16 (Ed. by H. Ichinose and T. Sasaki)

      ページ: 110

  • [学会発表] 亀裂先端転位群の電子線トモグラフィ観察2008

    • 著者名/発表者名
      本田雅幹, 定松直, 田中將己, 金子賢治, 東田賢二, 光原昌寿, 波多聰
    • 学会等名
      第50回日本顕微鏡学会九州支部学術講演会
    • 発表場所
      久留米大学
    • 年月日
      2008-12-06
  • [学会発表] Crack tip dislocations observed by TEM in single crystal silicon2008

    • 著者名/発表者名
      M. Tanaka, K. Higashida
    • 学会等名
      4th International Symposium on Designing, Processing and Properties of Advanced Engineering Materials(ISAEM-2008)
    • 発表場所
      Nagoya,Japan
    • 年月日
      2008-11-22
  • [学会発表] 3-D observations by combining scanning transmission electron microscopy and computed tomography2008

    • 著者名/発表者名
      K. Higashida, M. Tanaka, M. Mitsuhara, K. Kaneko, S. Hata
    • 学会等名
      4th International Symposium on Designing, Processing and Properties of Advanced Engineering Materials (ISAEM-2008)
    • 発表場所
      Nagoya, Japan
    • 年月日
      2008-11-19
  • [学会発表] Three-dimensional analyses of crack tip dislocations observed by electron tomography2008

    • 著者名/発表者名
      M. Tanaka, M. Honda, M. Mitsuhara, S. Hata, K. Kaneko, K. Higashida
    • 学会等名
      The 9th Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC9)
    • 発表場所
      Jeju, Korea
    • 年月日
      2008-11-06
  • [学会発表] 亀裂先端転位群の3次元電子線トモグラフィ解析2008

    • 著者名/発表者名
      本田雅幹, 定松直, 田中將己, 金子賢治, 東田賢二, 光原昌寿, 波多聰
    • 学会等名
      日本金属学会143秋期大会
    • 発表場所
      熊本大学
    • 年月日
      2008-09-23
  • [学会発表] Si単結晶におけるクラック先端転位群の電子線トモグラフィ解析2008

    • 著者名/発表者名
      本田雅幹, 田中將己, 光原昌寿, 波多聰, 金子賢治, 東田賢二
    • 学会等名
      平成20年度日本金属学会九州支部・日本鉄鋼協会九州支部合同学術講演大会
    • 発表場所
      九州大学
    • 年月日
      2008-06-07
  • [学会発表] Crack tip dislocations and their configuration revealed by electron tomography in silicon single crystal2008

    • 著者名/発表者名
      M. Tanaka, K. Higashida
    • 学会等名
      Eighth International Conference on Fundamentals of Fracture, Jan
    • 発表場所
      Guangzhou, China
    • 年月日
      2008-06-06
  • [学会発表] 亀裂先端転位の三次元構造観察2008

    • 著者名/発表者名
      田中將己, 本田雅幹, 光原昌寿, 金子賢治, 波多聰, 東田賢二
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第64回学術講演会
    • 発表場所
      国立国際会館
    • 年月日
      2008-05-23
  • [学会発表] 超高圧電顕法による亀裂先端転位構造の解析2008

    • 著者名/発表者名
      東田賢二, 田中將己
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第64回学術講演会
    • 発表場所
      国立国際会館
    • 年月日
      2008-05-22
  • [学会発表] 電子線トモグラフィーによる亀裂先端転位の三次元構造解析2008

    • 著者名/発表者名
      田中將己, 金子賢治, 東田賢二, 光原昌寿, 波多聰
    • 学会等名
      日本金属学会142回春期大会
    • 発表場所
      武蔵野工大
    • 年月日
      2008-03-28

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公開日: 2010-06-10   更新日: 2016-04-21  

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