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2008 年度 研究成果報告書

構造テストに高故障検出効率を保証するプロセッサの命令レベル自己テスト法

研究課題

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研究課題/領域番号 18500038
研究種目

基盤研究(C)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 計算機システム・ネットワーク
研究機関奈良先端科学技術大学院大学

研究代表者

井上 美智子  奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 准教授 (30273840)

研究分担者 大竹 哲史  奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助教 (20314528)
米田 友和  奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助教 (20359871)
研究期間 (年度) 2006 – 2008
キーワード設計自動化 / VLSIのテスト / テスト容易化設計
研究概要

本研究では、機能テストと構造テストの特長を活かしたテスト手法である、プロセッサの命令レベル自己テスト法の研究を行った.パイプラインプロセッサに対し、モジュール単体でのテスト生成と命令列探索を組み合わせて効率のよいテスト生成手法を提案し、パス遅延故障に対し高い故障検出効率が得られることを示した.さらに、自己テストプログラムを効率よく生成する手法であるテンプレートを用いて生成された自己テストプログラムのためのテスト容易化設計手法を提案した提案法は、テンプレートレベル故障検出効率100%、すなわち、誤りマスクを完全に回避できることを特長とする.

  • 研究成果

    (7件)

すべて 2009 2008 2006

すべて 雑誌論文 (2件) (うち査読あり 2件) 学会発表 (5件)

  • [雑誌論文] Design for testability method to avoid error masking of software-based self-test for processors2008

    • 著者名/発表者名
      Masato Nakazato, Michiko Inoue, Satoshi Ohtake and Hideo Fujiwara
    • 雑誌名

      IEICE Trans. on Information and Systems Vol.E91-D, No.3

      ページ: 763-770

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Instruction-based self-testing of delay faults in pipelined processors2006

    • 著者名/発表者名
      Virendra Singh, Michiko Inoue, Kewal K. Saluja and Hideo Fujiwara
    • 雑誌名

      IEEE Trans. on Very Large Scale Integration(VLSI)Systems Vol.14, No.11

      ページ: 1203-1215

    • 査読あり
  • [学会発表] Partial scan approach for secret information protection2009

    • 著者名/発表者名
      Michiko Inoue, Tomokazu Yoneda, Muneo Hasegawa and Hideo Fujiwara
    • 学会等名
      Proceedings of the 14th IEEE European Test Symposium(ETS'09)
    • 年月日
      20090500
  • [学会発表] Unsensitizable Path Identification at RTL Using High-Level Synthes is Information2009

    • 著者名/発表者名
      Satoshi Ohtake, Naotsugu Ikeda, Michiko Inoue, Hideo Fuji waral
    • 学会等名
      Digest of papers of 16th IEEE International Test Synthesis Workshop
    • 年月日
      20090000
  • [学会発表] "Delay test of FPGA routing networks by branched test paths, " Informal Digest of Papers2008

    • 著者名/発表者名
      Elena Hammari, Michiko Inoue, Einar J. Aas and Hideo Fujiwara
    • 学会等名
      13th IEEE European Test Symposium(ETS'08)
    • 年月日
      20080500
  • [学会発表] Design for testability of software-based self-test for processors2006

    • 著者名/発表者名
      Masato Nakazato, Satoshi Ohtake, Michiko Inoue and Hideo Fujiwara
    • 学会等名
      15th IEEE Asian Test Symposium(ATS'06)
    • 年月日
      20061100
  • [学会発表] プロセッサの命令レベル自己テストのためのテスト容易化設計2006

    • 著者名/発表者名
      中里昌人, 大竹哲史, 井上美智子, 藤原秀雄
    • 学会等名
      信学技報(ICD2006-40~59)
    • 年月日
      20060600

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公開日: 2010-06-10   更新日: 2016-04-21  

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