組み込みシステムに対するソフト/ハード協調テスト法の開発

2008 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 18500055
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 計算機システム・ネットワーク
• 研究機関: 愛媛大学
• 研究代表者: 高松 雄三 愛媛大学, 大学院・理工学研究科, 教授 (80039255)
• 研究分担者: 高橋 寛 愛媛大学, 大学院・理工学研究科, 准教授 (80226878) ; 樋上 喜信 愛媛大学, 大学院・理工学研究科, 准教授 (40304654) ; 阿萬 裕久 愛媛大学, 大学院・理工学研究科, 講師 (50333513)
• 研究期間 (年度): 2006 – 2008
• キーワード: 組み込みシステム / テスト / ハードウエア / ソフトウエア / 協調テスト

研究概要

本研究では, 組み込みシステムに対して自動的にテストケースを生成する手法を開発した. 開発した手法では, システムをハードウエアとソフトウエアにく別することなく, システム全体をテストすることが可能となる. また, テスト生成においては, 仕様で与えられたシステムの動作やテスト生成時の様々な制約を論理回路で表現し, ハードウエアテスト生成ツールを用いた手法を開発することで, 実用化が容易となるようにした.

研究成果

• [雑誌論文] ハードウェアテスト生成ツールを用いた組込みシステムに対するテストケール生成法 (2008)
  • 著者名/発表者名: 樋上喜信, 藤尾昇平, 阿萬裕久, 高橋寛, 高松雄三
  • 雑誌名: 組込みシステムシンポジウム論文集 ページ: 151-157
  • 査読あり
• [雑誌論文] On Finding Don't Cares in Test Sequences for Sequential Circuits (2006)
  • 著者名/発表者名: Y. Higami, S. Kajihara, I. Pomeranz, S. Kobayashi and Y. Takamatsu
  • 雑誌名: IEICE Trans. on Inf. & Syst. vol.E89-D, no.11 ページ: 2748-2755
  • 査読あり
• [雑誌論文] 組合せ回路および順序回路に対する検出・非検出情報に基づく診断用テスト圧縮法 (2006)
  • 著者名/発表者名: 樋上喜信, Kewal K. Saluja, 高橋寛, 小林真也, 高松雄三
  • 雑誌名: 情報処理学会論文誌 vol.47, no.5 ページ: 1269-1277
  • 査読あり
• [学会発表] オープンソース開発におけるバグ報告累積数の成長曲線モデルを用いた分析 (2008)
  • 著者名/発表者名: 黒川耕平, 阿萬裕久
  • 学会等名: 電子情報通信学会技術報告, vol.108, no.326, pp.61-66
  • 年月日: 2008-11-28
• [学会発表] 原因-結果グラフを用いた組込みシステムに対する自動テストケール生成法 (2008)
  • 著者名/発表者名: 藤尾昇平, 阿萬裕久, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三
  • 学会等名: 電気関係学科四国支部連合大会論文集, p. 300
  • 年月日: 2008-09-27
• [学会発表] 要求仕様作成に対する直交表を用いた支援法について (2008)
  • 著者名/発表者名: 阿萬裕久
  • 学会等名: ソフトウェアシンポジウム2008 Proceedings, pp.154-155
  • 年月日: 2008-06-25
• [学会発表] ハードウエアテスト生成ツールを用いた組み込みシステムのテストケース生成について (2008)
  • 著者名/発表者名: 高橋寛, 樋上喜信, 阿萬裕久, 釜山天平, 小林真也, 高松雄三
  • 学会等名: 電子情報通信学会総合大会
  • 年月日: 2008-03-18
• [学会発表] 直交表を用いた単体テストに関する考察~JUnit支援ツールの試作~ (2007)
  • 著者名/発表者名: 山田輝, 阿萬裕久, 高松雄三
  • 学会等名: 電子情報通信学会技術報告, vol.107, no.5, pp.1-6
  • 年月日: 2007-04-19
• [学会発表] ハードウエア設計に対するソフトウェアメトリクスの適用 (2007)
  • 著者名/発表者名: 阿萬裕久, 池田裕輔, 市川直樹, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三
  • 学会等名: 電子情報通信学会総合大会
  • 年月日: 2007-03-21
• [学会発表] ゲートレベルを用いたトランジスタショートに対するテスト生成法 (2007)
  • 著者名/発表者名: 樋上喜信, K. K. Saluja, 高橋寛, 小林真也, 高松雄三
  • 学会等名: 電子情報通信学会技術報告(DC研究会), vol. 106, no. 476, pp. 34-39
  • 年月日: 2007-02-09
• [学会発表] Diagnosis of Transistor Shorts in Logic Test Environment (2006)
  • 著者名/発表者名: Y. Higami, K. K. Saluja, H. Takahasi, K. Kobayashi and Y. Takamatsu
  • 学会等名: Proc. IEEE Fifteenth Asian Test Symposium, pp. 354-359
  • 年月日: 2006-11-26