研究課題
基盤研究(C)
ウェルナー症候群(WS)は日本人に高頻度でみられる劣性遺伝疾患で早期老化症状を特徴とする。本研究ではWSの網羅的な遺伝子発現解析を行うと同時に、臨床症状を示しながら細胞の分裂寿命が短縮していない亜群の早期老化症状を引き起こす原因遺伝子あるいは発現クラスターの解析を行うことによって、新しい老化の分子モデルを提案することである。培養細胞における網羅的遺伝子発現データを解析し老化プロファイルを明らかにした。
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