電子回折を利用した新規3次元電子顕微鏡法の開発と結晶性材料のナノ組織評価

2008 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 18681019
• 研究種目: 若手研究(A)
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: ナノ材料・ナノバイオサイエンス
• 研究機関: 九州大学
• 研究代表者: 波多 聰 九州大学, 大学院・総合理工学研究院, 准教授 (60264107)
• 研究協力者: 木村 耕輔 九州大学, 大学院・工学府, 博士後期課程 ; 松山 加苗 九州大学, 大学院・工学府, 博士後期課程 ; 松村 晶 九州大学, 大学院・工学研究院, 教授 ; 光原 昌寿 九州大学, 大学院・総合理工学研究院, 特任助教 ; 池田 賢一 九州大学, 大学院総・合理工学研究院, 助教 ; 中島 英治 九州大学, 大学院・総合理工学研究院, 教授 ; 田中 將己 九州大学, 大学院・工学研究院, 助教 ; 東田 賢二 九州大学, 大学院・工学研究院, 教授
• 研究期間 (年度): 2006 – 2008
• キーワード: ナノ材料評価 / 電子顕微鏡 / 電子線トモグラフィー / 電子回折 / 結晶

研究概要

透過電子顕微鏡を用いた3次元観察法として電子線トモグラフィーが注目されてきている。本研究では、結晶中での電子回折を積極的に利用するという、従来とは逆の発想に基づいた新しい電子線トモグラフィー技術を開発し、転位、合金ドメイン構造といった結晶材料の物性と深く関わる微細組織の3次元ナノスケール評価に成功した。

研究成果

• [雑誌論文] 走査透過電子顕微鏡による鉄鋼材料の中・低倍率観察の有用性, (2009)
  • 著者名/発表者名: 波多聰 他5名
  • 雑誌名: 金属 79 ページ: 33-38
  • 査読あり
• [雑誌論文] Electron tomography imaging and analysis of γ'and γ domains in Ni-based superalloys (2008)
  • 著者名/発表者名: S. Hata 他9名
  • 雑誌名: Advanced Materials 20 ページ: 1905-1909
  • 査読あり
• [雑誌論文] Crack tip dislocations revealed by electron tomography in silicon single crystal (2008)
  • 著者名/発表者名: M. Tanaka, K. Higashida, K. Kaneko, S. Hata 他1名
  • 雑誌名: Scripta Materialia 59 ページ: 901-904
  • 査読あり
• [雑誌論文] Three-dimensional observation of dislocations by electron tomography in a silicon crystal (2008)
  • 著者名/発表者名: M. Tanaka, M. Honda, M. Mitsuhara, S. Hata 他2名
  • 雑誌名: Materials Transactions 13 ページ: 719-726
  • 査読あり
• [雑誌論文] 電子線トモグラフィーによる結晶材料組織の3次元可視化 (2008)
  • 著者名/発表者名: 波多聰 他12名
  • 雑誌名: ふぇらむ 13 ページ: 719-726
  • 査読あり
• [雑誌論文] 透過電子顕微鏡暗視野トモグラフィーによる規則合金ドメインの三次元観察 (2008)
  • 著者名/発表者名: 木村耕輔,松山加苗,波多聰 他1名
  • 雑誌名: 日本結晶学会誌 50 ページ: 314-319
  • 査読あり
• [学会発表] Three-dimensional imaging of nanostructure in crystals : development of advanced electron tomography for materials science (2008)
  • 著者名/発表者名: S. Hata
  • 学会等名: 10th Cross Straits Symposium on Materials, Energy and Environmental Sciences
  • 発表場所: Fukuoka, Japan.
  • 年月日: 20081113-14
• [学会発表] Three-dimensional imaging of dislocations in steel using STEM tomography (2008)
  • 著者名/発表者名: M. Mitsuhara, M. Tanaka, K. Ikeda, S. Hata 他1名
  • 学会等名: The 9th Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC9) in conjunction with the 39th Annual Meeting of the Korean Society of Microscopy
  • 発表場所: Jeju, Korea.
  • 年月日: 20081102-07
• [学会発表] Development of high-angle triple-axis specimen holder for electron tomography (2008)
  • 著者名/発表者名: S. Hata 他1名
  • 学会等名: The 9th Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC9) in conjunction with the 39th Annual Meeting of the Korean Society of Microscopy
  • 発表場所: Jeju, Korea.
  • 年月日: 20081102-07
• [学会発表] Tomographic dark-field TEM analysis of ordered variant morphology in Ni4Mo alloy (2008)
  • 著者名/発表者名: K. Kimura, K. Matsuyama, S. Hata 他1名
  • 学会等名: The 9th Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC9) in conjunction with the 39th Annual Meeting of the Korean Society of Microscopy
  • 発表場所: Jeju, Korea.
  • 年月日: 20081102-07
• [学会発表] Three-dimensional analyses of crack tip dislocations observed by electron tomography (2008)
  • 著者名/発表者名: M. Tanaka, M. Honda, M. Mitsuhara, S. Hata 他2名
  • 学会等名: The 9th Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC9) in conjunction with the 39th Annual Meeting of the Korean Society of Microscopy
  • 発表場所: Jeju, Korea.
  • 年月日: 20081101-07
• [学会発表] High-angle triple-axis specimen holder designed for tomographic diffraction contrast imaging (2008)
  • 著者名/発表者名: S. Hata 他6名
  • 学会等名: Development of Advanced Instruments for New Electron Microscopy and Diffraction (The International Union of Crystallography 2008 Satellite Meeting)
  • 発表場所: Nagoya, Japan.
  • 年月日: 20080901-03
• [学会発表] Three-dimensional shape of γ Particle formed in γ'phase in a Ni-Al-Ti alloy (2007)
  • 著者名/発表者名: K. Kimura, H. Gao, S. Hata 他3名
  • 学会等名: The Sixth Pacific Rim International Conference on Advanced Materials and Processing (PRICM6)
  • 発表場所: Jeju, Korea.
  • 年月日: 20071105-09
• [学会発表] Alignment procedure of diffraction conditions for tomographic dark-field TEM observation (2007)
  • 著者名/発表者名: S. Hata 他3名
  • 学会等名: Electron Microscopy and Analysis Group Conference (EMAG 2007)
  • 発表場所: Glasgow, UK.
  • 年月日: 20070904-07
• [学会発表] Hybrid electron tomography imaging of crystalline nanostructures (2007)
  • 著者名/発表者名: S. Hata
  • 学会等名: 2007 U.S. -Japan Young Researchers Exchange Program in Nanotechnology, Co-sponsored by the U. S. National Science Foundation and the Japan Ministry of Education, Culture, Sports, Science and Technology
  • 発表場所: Sendai, Japan.
  • 年月日: 2007-05-30
• [学会発表] Nanostructure observation using diffraction-based electron tomography (2007)
  • 著者名/発表者名: S. Hata
  • 学会等名: 2007 U.S. - Japan Young Researchers Exchange Program in Nanotechnology, Co-sponsored by the U. S. National Science Foundation and the Japan Ministry of Education, Culture, Sports, Science and Technology, Kick-off Symposium
  • 発表場所: Charlotte, USA.
  • 年月日: 2007-03-07
• [学会発表] Three-dimensional imaging of ordering alloys using DFTEM tomography (2006)
  • 著者名/発表者名: S. Hata 他5名
  • 学会等名: 2006 Fall Meeting of the Materials Research Society
  • 発表場所: Boston, USA
  • 年月日: 20061127-1201
• [学会発表] Tomographic dark-field and energy-filtering TEM observation of novel γ/γ' nanostructures in Ni-Al-Ti alloy (2006)
  • 著者名/発表者名: S. Hata 他9名
  • 学会等名: The 16th International Microscopy Congress
  • 発表場所: Sapporo, Japan
  • 年月日: 20060903-08
• [学会発表] Tomographic dark-field TEM observation of ordered domain boundaries in Ni4Mo alloy (2006)
  • 著者名/発表者名: K. Kimura, S. Hata 他2名
  • 学会等名: The 16th International Microscopy Congress
  • 発表場所: Sapporo, Japan
  • 年月日: 20060903-08
• [備考] 高傾斜3軸試料ホルダー製品紹介ホームページ
  • URL: http://www.melbuild.com/