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2007 年度 実績報告書

マルチクロックドメイン・システムオンチップのテスト容易化設計に関する研究

研究課題

研究課題/領域番号 18700046
研究機関奈良先端科学技術大学院大学

研究代表者

米田 友和  奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助教 (20359871)

キーワードテスト容易化設計 / テストスケジューリング / システムオンチップ / ネットワークオンチップ / マルチクロックドメイン
研究概要

平成19年度は、マルチクロックドメインコアに対して、消費電力制約下で短いテスト実行時間を達成可能なIEEE std. 1500に準拠したラッパー設計法を提案し、VLSIテストに関する国際会議である「IEEE VLSI Test Symposium」で発表を行い、2008年3月にIEICE Transactions on Information and Systemsに掲載された。
また本年度は、マルチクロックドメイン・システムオンチップ(以下、SoC)におけるデータ転送の一つの実現方法であるネットワークオンチップ(以下、NoC)をベースとしたSoCを対象とした研究を行った。SoCに存在する既存のネットワークをテスト実行時に効率良く再利用することを目的としたコアに対するラッパー設計法、テストアーキテクチャおよびテストスケジューリング手法を提案した。これにより、小さい面積オーバーヘッドでテストアクセス機構の実現が可能となる。また、テスト実行時にNoCの帯域幅を効率良く複数のコアで共有することにより短いテスト実行時間の実現が可能となる。これらの成果をVLSI設計に関する国際会議である「IEEE European Test Symposium」や「IEEE Asian Test Symposium」等にて研究成果発表を行った。
本年度は、各コアはシングルクロックドメインで設計され(ただし、コア毎に周波数は異なる)、NoCは同期式データ転送モデルで設計されているSoCを対象とした。しかし、NoCそのものの実現方法としては非同期式データ転送モデルを用いたものも数多く提案されており、提案手法は非同期式データ転送モデルにも応用可能であると考えられる。

  • 研究成果

    (13件)

すべて 2008 2007

すべて 雑誌論文 (5件) (うち査読あり 5件) 学会発表 (8件)

  • [雑誌論文] Scheduling power constrained tests through the soc functional bus2008

    • 著者名/発表者名
      F.A. Hussin, T. Yoneda, A. Orailoglu, H. Fujiwara
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems Vol. E91-D, No. 3

      ページ: 736-746

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Effective Domain Partitioning for Multi-clock Domain IP Core Wrapper Design Under Power Constraints2008

    • 著者名/発表者名
      T.E. Yu, T. Yoneda, D. Zhao, H. Fujiwara
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems Vol. E91-D, No. 3

      ページ: 807-814

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Test Scheduling for Multi-Clock Domain SoCs under Power Constraint2008

    • 著者名/発表者名
      T. Yoneda, K. Masuda, H. Fujiwara
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems Vol. E91-D, No. 3

      ページ: 747-755

    • 査読あり
  • [雑誌論文] NoC-compatible Wrapper Design and Optimization Under Channel Bandwidth and Test Time Constraints2008

    • 著者名/発表者名
      F.A. Hussin. T. Yoneda, H. Fujiwara
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems (To appear)

    • 査読あり
  • [雑誌論文] On NoC Bandwidth Sharing for the Optimization of Area Cost and Test Application Time2008

    • 著者名/発表者名
      F.A. Hussin, T. Yoneda, H. Fujiwara
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems (To appear)

    • 査読あり
  • [学会発表] Wrapper and TAM co-optimization for reuse of soc functional interconnects2008

    • 著者名/発表者名
      T. Yoneda, H. Fujiwara
    • 学会等名
      Design, Automation and Test in Europe (DATE'08)
    • 発表場所
      Munich, Germany
    • 年月日
      20080500
  • [学会発表] Area overhead and test time co-optimization through noc bandwidth sharing2007

    • 著者名/発表者名
      F.A. Hussin, T. Yoneda, H. Fujiwara
    • 学会等名
      IEEE 16th Asian Test Symopsium (ATS'07)
    • 発表場所
      Beijing, China
    • 年月日
      20071000
  • [学会発表] Test scheduling for memory cores with built-in self-repair2007

    • 著者名/発表者名
      T. Yoneda, Y. Fukuda, H. Fujiwara
    • 学会等名
      IEEE 16th Asian Test Symposium (ATS'07)
    • 発表場所
      Beijing, China
    • 年月日
      20071000
  • [学会発表] Using domain partitoning in wrapper design for IP cores under power constraints2007

    • 著者名/発表者名
      T.E. Yu, T. Yoneda, D. Zhao, H. Fujiwara
    • 学会等名
      IEEE 25th VLSI Test Symposium (VTS'07)
    • 発表場所
      Berkekey, USA
    • 年月日
      20070500
  • [学会発表] TAM design and optimization for transparency-based soc test2007

    • 著者名/発表者名
      T. Yoneda, A. Shuto, H. Ichihara, T. Inoue, H. Fujiwara
    • 学会等名
      IEEE 25th VLSI Test Symposium (VTS'07)
    • 発表場所
      Berkekey, USA
    • 年月日
      20070500
  • [学会発表] Optimization of noc wrapper design under bandwidth and test time constraints2007

    • 著者名/発表者名
      F.A. Hussin, T. Yoneda, H. Fujiwara
    • 学会等名
      The IEEE European Test Symopsium 2007 (ETS'07)
    • 発表場所
      Freiburg, Germany
    • 年月日
      20070500
  • [学会発表] Poweraware multi-frequency heterogeneous SoC test framework designwith floor-ceiling packing2007

    • 著者名/発表者名
      D. Zhao, R. Huang, T. Yoneda, H. Fujiwara
    • 学会等名
      2007 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2007)
    • 発表場所
      New Orleans, USA
    • 年月日
      20070500
  • [学会発表] An SoC Test Scheduling Algorithm using Reconfigurable Union Wrappers2007

    • 著者名/発表者名
      T. Yoneda, M. Imanishi, H. Fujiwara
    • 学会等名
      Design, Automation and Test in Europe (DATE'07)
    • 発表場所
      Nice, France
    • 年月日
      20070400

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公開日: 2010-02-04   更新日: 2016-04-21  

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