ダイレクトコンバージョンOFDM受信機における信号歪補償法の研究

2008 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 18760281
• 研究種目: 若手研究(B)
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: 通信・ネットワーク工学
• 研究機関: 慶應義塾大学
• 研究代表者: 眞田 幸俊 慶應義塾大学, 理工学部, 准教授 (90293042)
• 研究期間 (年度): 2006 – 2008
• キーワード: 変復調 / OFDM / ダイレクトコンバージョン

研究概要

次世代の移動体通信の変復調方式として直交周波数分割多重(OFDM)の採用が見込まれている.他方端末における受信機構成としてダイレクトコンバージョン受信方式が有望である.しかし,ダイレクトコンバージョン受信方式は受信信号がアナログ回路の歪みの影響を受ける.本研究ではダイレクトコンバージョンOFDM受信機のアナログ回路で発生する歪みを,ディジタル信号処理を用いて補正する方式を検討した.そして広帯域信号の受信が可能であることを示した.

研究成果

• [雑誌論文] Influence of Timing Jitter on Quadorature Charge Sampling (2007)
  • 著者名/発表者名: M. Inamori, A. M. Bostaman, and Y. Sanada
  • 雑誌名: IET Communications 1 ページ: 705-710
  • 査読あり
• [雑誌論文] IQ Imbalance Compensation Scheme for MB-OFDM with Transmit Diversity (2006)
  • 著者名/発表者名: Y. Kato, T. Ikuno, and Y. Sanada
  • 雑誌名: IEICE Transactions on Fundamentals E89-A ページ: 3066-3074
  • 査読あり
• [学会発表] Experimental Investigation of Fractional Sampling in IEEE802.11a WLAN System (2008)
  • 著者名/発表者名: T. Shinkai, H. Nishimura, M.Inamori, and Y. Sanada
  • 学会等名: The Eleventh IEEE International Conference on Communications Systems
  • 発表場所: Guangzhou, China
  • 年月日: 2008-11-20
• [学会発表] Multipath Diversity Through Fractional Sampling in MB-OFDM (2008)
  • 著者名/発表者名: Y. Kato, M. Inamori, and Y. Sanada
  • 学会等名: The 5th IEEE VTS Asia Pacific Wireless Communications Symposium
  • 発表場所: Sendai, Japan
  • 年月日: 2008-08-20
• [学会発表] IEEE802.11aにおけるFractional Samplingの実験的検討 (2008)
  • 著者名/発表者名: 新開隼也,西村晴輝,稲森真美子,眞田幸俊
  • 学会等名: 電子情報通信学会ソフトウェア無線研究会
  • 発表場所: 小金井
  • 年月日: 2008-07-31
• [学会発表] al Sampling OFDM/OQAM-IOTA on Multipath Channel With Long Delay Spread (2007)
  • 著者名/発表者名: T. Tamura and Y. Sanada
  • 学会等名: IEEE Pacific Rim Conference on Communications, Computers and Signal Processing
  • 発表場所: Victoria, Canada
  • 年月日: 2007-08-24
• [学会発表] IQ Imbalance Compensation Scheme for MB-OFDM with Transmit Diversity (2006)
  • 著者名/発表者名: Y. Kato, T. Ikuno, and Y. Sanada
  • 学会等名: the 2006 IEEE International Conference on Ultra Wideband
  • 発表場所: Waltham, USA
  • 年月日: 2006-09-26
• [備考]
  • URL: http://www.snd.elec.keio.ac.jp