研究成果の概要 |
本研究はトポロジカル結晶絶縁体であるSnTeおよび混晶の(Pb,Sn)Teにおいて、トポロジカル表面状態に起因する特異な物性を調べ、特に鏡映対称性を破る摂動が表面状態にどのような影響を及ぼすか明らかにすることを目的として研究を行った。分子線エピタキシーにより作製したSnTe, (Pb,Sn)Te薄膜に対し時間分解角度光電子分光測定により非占有状態を調べ、ディラック錘の全体像およびバルク価電子帯のラシュバ分裂を観察した。また、SnTeと強磁性体との接合構造に対して偏極中性子反射率測定により深さ方向の磁化の分布を調べ、トポロジカル表面状態により界面に磁化が誘起されることを明らかにした。
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