ハフニア系強誘電体は、CMOSプロセスとの親和性が良いため注目されている。本研究では、YO1.5置換HfO2 (YHO)およびHf0.5Zr0.5O2 (HZO)を対象に、酸化物下部電極(ITO)の活用と2段階アニールにより、原子レベル平坦かつ膜厚が均一なYHO (HZO)/ITO多結晶ヘテロ構造を、SiO2/Si基板上に作製することに成功した。これにより、YHO(12 nm)については、エピタキシャル単結晶膜に匹敵する残留分極(13 μC/cm2)を実証、HZOについては、膜厚2.4nmのPt/HZO/ITOトンネル接合を作製, 強誘電性に起因したトンネル抵抗のスイッチングを実証した。
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