計画とおり、Yb123バルクを用いた溶融成長法によるRE123線材間のヘテロ接合について、界面の組織形成と結晶成長および構造変化などを調べた。界面の組織形成では、Gd123-Yb123の接合構造が一部であり、非超伝導であるBaCuO2を経由したGd123-BaCuO2-Yb123の構造が多くなっていた。このような組織が、これまで接合の臨界電流が低かった要因の一つとして考えられる。ヘテロ界面の結晶成長について、Yb123相が成長した厚さは1μm以下と評価された。界面における構造変化について、Mo元素の固相拡散が接合の臨界電流に大きく影響する可能性があり、線材の構造の改良が必要であると考えている。
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