本研究ではα型酸化ガリウム(α-Ga2O3)結晶の成長にミストCVD法を用いた。高品質なα-Ga2O3薄膜とα-(AlGa)2O3混晶薄膜,ヘテロ構造の作製を,結晶成長機構を明らかにしつつ実施した。その結果,以下の結果を得た。(1)α-Ga2O3およびα-(AlGa)2O3混晶薄膜は,GaおよびAlイオンのアセチルアセトナート錯体化と配位子交換により生じる。(2)Alイオンの錯体化速度を定量的に明らかにした。(3)スズにメモリ効果があることを見出した。 今回の研究はヘテロ構造の作製には至らなかったが,それに必要な高い平坦性をもつ混晶膜を得る手法を結晶成長機構に基づいて実現できた。
|