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2019 年度 実施状況報告書

IPコア内のトロイ回路を特定するLSI設計技術に関する研究

研究課題

研究課題/領域番号 18K11228
研究機関京都産業大学

研究代表者

吉村 正義  京都産業大学, 情報理工学部, 准教授 (90452820)

研究分担者 細川 利典  日本大学, 生産工学部, 教授 (40373005)
研究期間 (年度) 2018-04-01 – 2021-03-31
キーワードトロイ回路
研究実績の概要

近年 LSI の設計に,第三者が設計し提供する LSI の部分的な設計データ (以下 IPコア) が広く使われている.本研究では,ブラックボックス化された設計データとホワイトボックス化された設計データの等価性を検証し,余分な機能が含まれていないことを明らかにし,LSIの設計に用いられるIPコアにトロイ回路が含まれていないことを示す手法を開発する.
今年度は「動作中に用いられる内部状態とあまり用いられない内部状態に分類する手法」についてプログラム作成を行った.次に本研究の対象となる回路の作成であるトロイが含まれた回路とそうでない回路を作成した.それぞれRTLとゲートレベルの回路を作成した.このトロイ回路は,順序回路であり,通常動作では到達しないまたは到達しにくい状態において,トロイ回路のトリガー回路が起動する回路である.
これらの設計したトロイ回路に対して,考案したアルゴリズムを実装したプログラムを適用し,トロイ回路を起動する状態を特定できるかを確かめる評価実験を行なった.
小規模な回路では,内部状態を列挙し,動作中に用いられる状態とあまり用いられれない内部状態に分類できた.一方,中規模から大規模な回路ではすべての状態を列挙できなかったため,状態の分類も行うことができなかった.小規模な回路の状態は,トロイ回路を起動する状態を含んでおり,トロイ回路を起動する状態を特定できることがわかった.中規模,大規模回路に対する手法の開発は来年度の課題である.

現在までの達成度 (区分)
現在までの達成度 (区分)

3: やや遅れている

理由

今年度は小規模な回路では,内部状態を列挙し,動作中に用いられる状態とあまり用いられない内部状態に分類できた.一方,中規模から大規模な回路ではすべての状態を列挙できなかったため,状態の分類も行うことができなかった.小規模な回路の状態は,トロイ回路を起動する状態を含んでおり,トロイ回路を起動する状態を特定できることがわかった.中規模,大規模回路に対する手法の開発は来年度の課題である.

今後の研究の推進方策

令和2年度(2020年度)は計高速な算機を導入し,仮説の立案と検証を高頻度に実践できるよう取り組む.

次年度使用額が生じた理由

研究の進捗が遅れたため,計算機が必要となる時期と対外発表の時期の双方が遅れた.そのため,計算機購入のための費用と旅費相当の費用が繰り越された.

  • 研究成果

    (4件)

すべて 2019

すべて 学会発表 (4件) (うち国際学会 4件)

  • [学会発表] A Controller Augmentation Method to Improve Transition Fault Coverage for RTL Data-Paths2019

    • 著者名/発表者名
      Yuki Takeuchi, Toshinori Hosokawa, Hiroshi Yamazaki, and Masayoshi Yoshimura
    • 学会等名
      2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS)
    • 国際学会
  • [学会発表] A State Assignment Method to Improve Transition Fault Coverage for Controllers2019

    • 著者名/発表者名
      Toshinori Hosokawa, Hiroshi Yamazaki, Kenichiro Misawa, Masayoshi Yoshimura, Yuki Hirama, and Masavuki Arai
    • 学会等名
      2019 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
    • 国際学会
  • [学会発表] A State Assignment Method to Improve Transition Fault Coverage for Controllers2019

    • 著者名/発表者名
      Masayoshi Yoshimura, Yuki Takeuchi, Hiroshi Yamazaki and Toshinori Hosokawa
    • 学会等名
      2019 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
    • 国際学会
  • [学会発表] A Don't Care Identification-Filling Co-Optimization Method for Low Capture Power Testing Using Partial MaxSAT2019

    • 著者名/発表者名
      Kenichiro Misawa, Toshinori Hosokawa, Hiroshi Yamazaki, Masayoshi Yoshimura, and Masayuki Arai
    • 学会等名
      The 20th Workshop on RTL and High-Level Testing (WRTLT’19)
    • 国際学会

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公開日: 2021-01-27  

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