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2019 年度 実施状況報告書

脳型機械学習ハードウェアの高信頼化に関する研究

研究課題

研究課題/領域番号 18K18025
研究機関奈良先端科学技術大学院大学

研究代表者

新谷 道広  奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 助教 (80748913)

研究期間 (年度) 2018-04-01 – 2021-03-31
キーワードニューラルネットワーク / メモリスタ / 高信頼化 / 過渡故障 / 永久故障 / 誤り訂正符号 / 脳型コンピュータ
研究実績の概要

本研究では、深層学習に代表される機械学習の性能を飛躍的に向上させる脳型機械学習ハードウェアに関する研究を行っており、特にメモリスタを用いたニューラルネットワークの高信頼化に着目している。メモリスタは、製造技術が習熟しておらず、過渡故障、永久故障を生じる課題がある。今年度は、定期的なオンラインテストおよび誤り訂正回路の付与によるメモリスタニューラル・ネットワークの耐故障化に取り組んだ。

メモリスタニューラルネットワークでは、メモリスタをクロスバーアレイ構造で実装し、クロスバーアレイの1層がニューラルネットワーク層に対応する。既存の手法では、各ニューラルネットワーク層の行方向に冗長セルを付与し、チェックサム法を用いて過渡故障の誤り訂正を行っていたが、2つ以上の同一行の故障は訂正できない課題があった。そこで、提案手法では、列方向にも冗長セルを付加することで、誤り訂正性能の向上を図った。さらに、定期的なオンラインテストにより永久故障を特定し救済する。ホップフィールドネットワークを用いた数値計算の結果、対策を行わなかった場合と比べて25.81%、既存手法と比べて5.25%の識別率向上を確認した。

さらに,本研究で得た機械学習の学習アルゴリズムに関する知見を活かして,集積回路の見逃し故障を効率的に検出するシステムを開発し、従来手法と比べて9.5倍の性能向上を達成した。リサイクルFPGAを検出する手法にも本研究の知見を応用し研究成果を挙げている。

現在までの達成度 (区分)
現在までの達成度 (区分)

3: やや遅れている

理由

提案手法により、識別率が25%向上している一方で、回路面積オーバーヘッドが5割以上を占め、改善の余地が大きい。

今後の研究の推進方策

昨年度開発した、スパース学習モデルを用いて学習の早期に重みがゼロとなるシナプスを推定する手法と組み合わせることで、識別率向上を維持しつつ、回路面積オーバーヘッドの削減を図る。

次年度使用額が生じた理由

年度末の出張規制により、出張ができなかったため。次年度の国内会議出張に当てる。

  • 研究成果

    (8件)

すべて 2020 2019 その他

すべて 国際共同研究 (1件) 雑誌論文 (1件) (うち査読あり 1件) 学会発表 (5件) (うち国際学会 2件) 備考 (1件)

  • [国際共同研究] Duke University(米国)

    • 国名
      米国
    • 外国機関名
      Duke University
  • [雑誌論文] Measurement and Modeling of Ambient-air-induced Degradation in Organic Thin-Film Transistor2020

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani, Michiaki Saito, Kazunori Kuribara, Yasuhiro Ogasahara, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing

      巻: 33 ページ: 216-223

    • DOI

      10.1109/TSM.2020.2986609

    • 査読あり
  • [学会発表] チェックサムとオンラインテストによるメモリスタニューラルネットワークの耐故障設計2020

    • 著者名/発表者名
      石坂守, 新谷道広, 井上美智子
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告(VLSI設計技術研究会)
  • [学会発表] 網羅的パス解析による高精度な再利用FPGA検出手法2020

    • 著者名/発表者名
      新谷道広, アフメドフォイサル, 井上美智子
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告(ディペンダブルコンピューティング研究会)
  • [学会発表] Improvement of Variational Autoencoder Based Test Escape Detection through Image Transformation2019

    • 著者名/発表者名
      Romain Chicoix, Michihiro Sintani, Kouichi Kumaki, and Michiko Inoue
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告(VLSI設計技術研究会)
  • [学会発表] Feature Engineering for Recycled FPGA Detection Based on WID Variation Modeling2019

    • 著者名/発表者名
      Foisal Ahmed, Michihiro Shintani, and Michiko Inoue
    • 学会等名
      IEEE European Test Symposium (ETS)
    • 国際学会
  • [学会発表] Low Cost Recycled FPGA Detection Using Virtual Probe Technique2019

    • 著者名/発表者名
      Foisal Ahmed, Michihiro Shintani, and Michiko Inoue
    • 学会等名
      IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia)
    • 国際学会
  • [備考] ディペンダブルシステム学研究室

    • URL

      http://dslab.naist.jp/

URL: 

公開日: 2021-01-27  

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