| 研究課題/領域番号 |
18K18026
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| 研究種目 |
若手研究
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| 配分区分 | 基金 |
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| 審査区分 |
小区分60040:計算機システム関連
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| 研究機関 | 九州工業大学 |
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研究代表者 |
Holst Stefan 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 助教 (40710322)
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| 研究期間 (年度) |
2018-04-01 – 2020-03-31
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| キーワード | VLSI / Logic Diagnosis / Small-Delay Defects / IR-Drop / Response Compression / Process Variations / Soft-Error Tolerance / GPU Computing |
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| 研究成果の概要 |
本研究では、チップから高信頼診断データを収集し、複雑なタイミングを伴う欠陥を診断することで大きな成果を上げた。まず、潜在的なIRドロップとクロックスキューを考慮してテスト応答を確実に収集できる２つの新しい手法が提案した。1つは静的な構造回路解析に、もう1つは正確なGPU加速タイミングシミュレーションに基づくものである。また、内部欠陥の検出・診断可能なソフトエラー耐性ラッチを提案した。更に、実際の欠陥と様々な遅延変動の複合効果を含む高圧縮製造テスト応答を分析できる新しい微小遅延故障診断手法、及び、隠れた遅延欠陥を識別してそれらが発生する前に初期寿命の故障から学習できる診断手法を提案した。
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| 自由記述の分野 |
Accelerated simulation, VLSI test and diagnosis
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
Finding root causes of failing chips through logic diagnosis is essential to ensure and improve reliability and safety of electronic systems. This research enabled diagnosis of complex timing defects previous methods were unable to find and thus contributes to more reliable and safe systems.
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