低加速ナノプローブで電子励起したナノ構造からの放射光角度分解分光観測

2009 年度 自己評価報告書

• 研究課題/領域番号: 19101004
• 研究種目: 基盤研究(S)
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: ナノ構造科学
• 研究機関: 東京工業大学
• 研究代表者: 高柳 邦夫 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 教授 (80016162)
• 研究期間 (年度): 2007 – 2011
• キーワード: 収差補正 / 電子顕微鏡 / ナノプローブ / ルミネッセンス / 表面プラズモン

研究概要

(1)本研究では、サブ-ナノメートルに絞られた電子ビームでナノ構造物質を励起し、局所領域から放射される光を同時観測するSTEM-CL装置の開発を行う。
(2)ナノ領域からの発光現象、表面プラズモンと光との変換過程などについて、エネルギーと運動量の関係(分散関係)を明らかにして、ナノ構造物質(半導体、金属、ハイブリッド)での電子-光現象を研究する。

研究成果

• [雑誌論文] STEM imaging of 47-pm-separated atomic columns by a spherical aberration -corrected electron microscope with a 300-kV cold field emission gun (2009)
  • 著者名/発表者名: H. Sawada, Y. Tanishiro, N. Ohashi, T. Tomita F. Hosokawa, T. Kaneyama, Y. Kondo, K. Takayanagi
  • 雑誌名: J. Electron. Microsc 58 ページ: 357-361
  • 査読あり
• [雑誌論文] Cathodoluminescent Spectroscopic Imaging of Surface Plasmon Polaritons in a 1-Dimensional Plasmonic Crystal (2009)
  • 著者名/発表者名: T. Suzuki, N. Yamamoto
  • 雑誌名: Opt. Express 17, No. 26 ページ: 23664-23671
  • 査読あり
• [雑誌論文] TEM-CL法による表面プラズモンの研究 (2009)
  • 著者名/発表者名: 山本直紀, 鈴木喬博, 竹内健悟
  • 雑誌名: 顕微鏡 44, No. 4 ページ: 268-274
  • 査読あり
• [雑誌論文] Measurement Method of Aberration from Ronchigram by Autocorrelation Function (2008)
  • 著者名/発表者名: H. Sawada, T. Sannomiya, F. Hosokawa, T. Nakamichi, T. Kaneyama, T. Tomita, Y. Kondo, T. Tanaka, Y. Oshima, Y. Tanishiro, K. Takayanagi
  • 雑誌名: Ultramicroscopy 108 ページ: 1467-1475
  • 査読あり
• [雑誌論文] Conversion of Surface Plasmon Polaritons to Light by a Surface Step (2008)
  • 著者名/発表者名: N. Yamamoto, Takahiro Suzuki
  • 雑誌名: Appl. Phys. Lett 93 ページ: 093114-3(1-3)
  • 査読あり
• [学会発表] 透過電子顕微鏡による表面プラズモンポラリトン発光の顕微分光 (2010)
  • 著者名/発表者名: 山本直紀
  • 学会等名: 応用物理学会学術講演会
  • 発表場所: 東海大学
  • 年月日: 20100317-20100320
• [学会発表] 50pm resolution electron microscope, performance and application (2009)
  • 著者名/発表者名: K. Takayanagi
  • 学会等名: Workshop on Advanced Application of Aberration Correction TEM (National Synchrotron Radiation Research Center Hsinchu
  • 発表場所: Taiwan
  • 年月日: 20091122-20091124
• [学会発表] Light Emission of Surface Plasmon Excited by Fast Electrons (2009)
  • 著者名/発表者名: N. Yamamoto
  • 学会等名: (invited) CLEO/Europe-EQEC 2009
  • 発表場所: Munich (Germany)
  • 年月日: 20090614-20090619
• [図書] Beam Injection Based Nanocharacterization of Advanced Materials(ed. G. Salviati, T. Sekiguchi, S. Heun and A. Gustafsson, TEM-Cathodoluminescence study of semiconductor quantum dots and quantum wires) (2008)
  • 著者名/発表者名: N. Yamamoto, K. Ishikawa, K. Akiba, S. Bhunia, K. Tateno, Y. Watanabe
  • 総ページ数: 37-59
  • 出版者: Research Signpost