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2011 年度 研究成果報告書

周波数検出型AFMに基づく大気・液中ナノ空間関計測・制御法の開発

研究課題

  • PDF
研究課題/領域番号 19106001
研究種目

基盤研究(S)

配分区分補助金
研究分野 薄膜・表面界面物性
研究機関京都大学

研究代表者

山田 啓文  京都大学, 大学院・工学研究科, 准教授 (40283626)

研究分担者 小林 圭  京都大学, 産官学連携本部, 助教 (40335211)
平田 芳樹  産業技術総合研究所, 主任研究員 (10357858)
研究期間 (年度) 2007 – 2011
キーワード走査型プローブ顕微鏡 / マルチAFMプローブ技術 / ナノ空間相関 / ナノ刺激応答 / 液中高分解能 / 生体分子
研究概要

本研究では、直上入射光てこ法を採用することで、あらゆる環境で動作するデュアルプローブAFMを新規に開発した。本装置によって、ポリジアセチレン単結晶における主鎖方向への異方的なキャリア伝導をナノスケールで可視化することや、ペンタセンの単一グレイン薄膜内のトランジスタ特性の計測に成功した。さらに、刺激応答計測による生体分子の機能解析に向けて、生理環境下での高分解能マルチプローブAFM動作を確立した。

  • 研究成果

    (15件)

すべて 2011 2010 2009 2008 2007 その他

すべて 雑誌論文 (5件) (うち査読あり 5件) 学会発表 (7件) 図書 (1件) 備考 (1件) 産業財産権 (1件)

  • [雑誌論文] Investigations of Local Electrical Properties of Pentacene Thin Films by Dual-Probe Atomic Force Microscopy2010

    • 著者名/発表者名
      M. Hirose, E. Tsunemi, K. Kobayashi, K. Matsushige, H. Yamada
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys

      巻: 49 ページ: 08LB10

    • DOI

      DOI:10.1143/JJAP.49.08LB10

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Visualization of anisotropic conductance in polydiacetylene crystal by dual-probe frequency-modulation atomic force microscopy/Kelvin-probe force microscopy2010

    • 著者名/発表者名
      E. Tsunemi, K. Kobayashi, K. Matsushige, H. Yamada
    • 雑誌名

      J. Vac. Sci. Technol

      巻: B28 ページ: C4D24-C4D28

    • DOI

      DOI:10.1116/1.3367983

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Molecular Resolution Imaging of Protein Molecules in Liquid Using Frequency Modulation Atomic Force Microscopy2009

    • 著者名/発表者名
      H. Yamada, K. Kobayashi, T. Fukuma, Y. Hirata, T. Kajita and K. Matsushige
    • 雑誌名

      Applied Physics Express

      巻: 2 ページ: 095007

    • DOI

      DOI:10.1143/APEX.2.095007

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Multi-Probe Atomic Force Microscopy Using Piezoelectric Cantilevers2007

    • 著者名/発表者名
      N. Satoh, E. Tsunemi, Y. Miyato, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige and H. Yamada
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys

      巻: 46 ページ: 5543-5547

    • DOI

      DOI:10.1143/JJAP.46.5543

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Multi-Probe Atomic Force Microscopy with Optical Beam Deflection Method2007

    • 著者名/発表者名
      E. Tsunemi, N. Satoh, Y. Miyato, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys

      巻: 46 ページ: 5636-5638

    • DOI

      DOI:10.1143/JJAP.46.5636

    • 査読あり
  • [学会発表] Local Electrical Transport Measurements of Organic Thin Films by Dual-Probe Atomic Force Microscopy2011

    • 著者名/発表者名
      M. Hirose, K. Kobayashi, H. Yamada and K. Matsushige
    • 学会等名
      5th International Conference on Thin Films(ICTF-15)
    • 発表場所
      京都
    • 年月日
      2011-11-08
  • [学会発表] Development of multi-environment dual-probe AFM system2010

    • 著者名/発表者名
      E. Tsunemi, N. Oyabu, K. Kobayashi, K. Matsushige, and H. Yamada
    • 学会等名
      13th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy(NC-AFM 2009)
    • 発表場所
      石川
    • 年月日
      2010-08-20
  • [学会発表] Visualization of Anisotropic Conductance in Polydiacetylene Crystal by Two-probe FM-AFM/KFM2009

    • 著者名/発表者名
      E. Tsunemi, K. Kobayashi, K. Matsushige, and H. Yamada
    • 学会等名
      12th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy
    • 発表場所
      ニューヘブン,アメリカ合衆国
    • 年月日
      2009-08-14
  • [学会発表] Development of Two-Probe with Optical Beam Deflection Method2008

    • 著者名/発表者名
      E. Tsunemi, N. Satoh, K. Kobayashi, K. Matsushige, H. Yamada
    • 学会等名
      International Conference on Nanoscience and Technology(ICN+ T 2008)
    • 発表場所
      コロラド,アメリカ合衆国
    • 年月日
      2008-07-24
  • [学会発表] Development of Multi-probe AFM with Optical Beam Deflection Method2007

    • 著者名/発表者名
      E. Tsunemi, N. Satoh, K. Kobayashi, K. Matsushige, H. Yamada
    • 学会等名
      2007 Materials Research Society Fall Meeting
    • 発表場所
      ボストン,アメリカ合衆国
    • 年月日
      2007-11-28
  • [学会発表] Development of multi-probe AFM with optical beamde flection method2007

    • 著者名/発表者名
      E. Tsunemi, N. Satoh, K. Kobayashi, K. Matsushige, H. Yamada
    • 学会等名
      10th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy
    • 発表場所
      アンタルヤ,トルコ
    • 年月日
      2007-09-17
  • [学会発表] 光てこ法を用いたマルチプローブAFMの開発2007

    • 著者名/発表者名
      常見英加、佐藤宣夫、小林圭、松重和美、山田啓文
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第63回学術講演会
    • 発表場所
      新潟
    • 年月日
      2007-05-20
  • [図書] Frequency Modulation Atomic Force Microscopy in Liquids,"Noncontact Atomic Force Microscopy Volume 2"2009

    • 著者名/発表者名
      H. Yamada, K. Kobayashi
    • 総ページ数
      303-328
    • 出版者
      Springer-Verlag
  • [備考]

    • URL

      http://piezo.kuee.kyoto-u.ac.jp/jp/research/multispm

  • [産業財産権] 走査型プローブ顕微鏡の出力処理方法及び走査型プローブ顕微鏡2008

    • 発明者名
      常見英加、佐藤宣夫、小林圭、山田啓文、松重和美
    • 権利者名
      国立大学法人京都大学
    • 産業財産権番号
      特許、特願2008-314113
    • 出願年月日
      2008-12-10

URL: 

公開日: 2013-07-31  

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