光励起現象に対する電子線ホログラフィーシステムの確立と材料科学への展開

2009 年度 自己評価報告書

• 研究課題/領域番号: 19106002
• 研究種目: 基盤研究(S)
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: 応用物理学一般
• 研究機関: 東北大学
• 研究代表者: 進藤 大輔 東北大学, 多元物質科学研究所, 教授 (20154396)
• 研究期間 (年度): 2007 – 2011
• キーワード: 物理計測・制御 / 電子顕微鏡

研究概要

代表者らの研究グループが独自に開発した2探針ピエゾ駆動ホルダーを改良し、透過電子顕微鏡内で試料へのレーザー照射が可能な装置を開発した。この装置と電子線ホログラフィー技術を駆使して、有機感光体材料に誘発された電荷が光減衰する過程を、その電場分布変化として観察することにはじめて成功した。

研究成果

• [雑誌論文] Local Conductivity and Electric Field Analysis of Ag-based Conductive Adhesive by TEM (2010)
  • 著者名/発表者名: N. Kawamoto, Y. Murakami, D. Shindo
  • 雑誌名: J.Appl.Phys. 107 ページ: 044309(1)-044309(6)
  • 査読あり
• [雑誌論文] Ferromagnetic Domain Nucleation and Growth in Colossal Magnetoresistive Manganite (2010)
  • 著者名/発表者名: Y. Murakami, H. Kasai, J. J. Kim, S. Mamishin, D. Shindo, S. Mori, A. Tonomura
  • 雑誌名: Nature Nanotechnology 5 ページ: 37-41
  • 査読あり
• [雑誌論文] Development of a multifunctional TEM specimen holder equipped with a piezodriving probe and a laser irradiation port (2009)
  • 著者名/発表者名: D. Shindo, K. Takahashi, Y. Murakami, K. Yamazaki, S. Deguchi, H. Suga, Y. Kondo
  • 雑誌名: J.Electron Microsc. 58 ページ: 245-249
  • 査読あり
• [雑誌論文] Determination of orbital location of electron-induced secondary electrons by electric field visualization (2009)
  • 著者名/発表者名: D. Shindo, J. J. Kim, K. H. Kim, W. Xia, N. Ohno, Y. Fujii, N. Terada, S. Ohno
  • 雑誌名: J.Phys.Soc.Jpn. 78 ページ: 104802(1)-104802(8)
  • 査読あり
• [雑誌論文] Triboelectricity evaluation of single toner particle by electron holography (2007)
  • 著者名/発表者名: H. Okada, D. Shindo, J. J. Kim, Y. Murakami
  • 雑誌名: J.Appl.Phys. 102 ページ: 054908(1)-054908(5)
  • 査読あり
• [学会発表] High-resolution and analytical electron microscopy for materials science (2009)
  • 著者名/発表者名: D. Shindo, Z. Akase
  • 学会等名: 26th Annual Conference, Microscopy Society of Thailand, Thailand, Chiang Mai
  • 年月日: 2009-01-28
• [図書] Nanohybridization of Organic-Inorganic Materials(A. Muramatsu and T. Miyashita ed., Electron Microscopy Characterization of Hybrid Metallic Nanomaterials) (2009)
  • 著者名/発表者名: D. Shindo, Z. Akase
  • 総ページ数: 219-246
  • 出版者: Springer-Verlag