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2009 年度 実績報告書

エネルギー識別能力をもつ医療用大面積X線画像検出器の開発

研究課題

研究課題/領域番号 19200044
研究機関名古屋工業大学

研究代表者

安田 和人  名古屋工業大学, 工学研究科, 教授 (60182333)

研究分担者 ニラウラ マダン  名古屋工業大学, 工学研究科, 准教授 (20345945)
キーワードテルル化カドミウム / 放射線検出器 / 有機金属気相成長法 / 成長前処理 / 検出器アレイ / 厚膜層成長
研究概要

有機金属気相成長法によりSi基板上に成長したCd(Zn)Te単結晶厚膜を用いて、画素ごとに入射X線フォトンエネルギーを識別できる能力をもつ、高性能大面積の2次元アレイ型X線画像検出器を開発することを目的として研究を行った。本年度は1.検出器暗電流のさらなる低減による検出特性向上と、2.大面積アレイ実現を目指した、成長層の高品質化と大面積化について検討を実施した。
1暗電流低減にはヘテロ接合界面の格子不整合に起因する転位による影響の低減が必要である。このためn-CdTeバッファ層中の転位密度の低減を目的として検討を行った。バッファ層成長時に成長を中断し、この間に成長温度から常温まで数回昇降温を繰り返し実施した場合、暗電流が低減できることが確認できた。これは上紀の処理により転位の発生とアニールによる消滅が生じるためと考えている。今後アニール温度の最適化によってさらに低暗電流化が見込める。
2成長層高品質化と大面積化については以下の検討を実施した。これまでSi基板上の成長層では基板からの成長層の部分的剥離や、成長面内での結晶性の不均一の発生防止が課題であった。これは主としてCdTe成長に先だって実施するSi基板の成長前処理における、基板面内での処理条件の変動や不均一が発生によって生じる。本年度はこの問題の改善を目的として新規の前処理装置を開発し、成長前処理の精密制御化を実現すると共に、基板面内における前処理の均一性と再現性の向上を図った。その結果、基板と成長層の部分的な剥離を防止すると共に、良好かつ均一な結晶性をもつCdTe層を実現した。さらにこの成長層によって検出器アレイを製作し、その特性の評価からも、均一かつ良好な特性が得られていることを確認した。
以上の結果は本研究で提案した方法により、最終目的とする高性能大面積X線画像検出器が実現できることを強く示唆している。

  • 研究成果

    (8件)

すべて 2010 2009 その他

すべて 雑誌論文 (3件) (うち査読あり 3件) 学会発表 (4件) 備考 (1件)

  • [雑誌論文] Development of X-ray, Gamma Ray Spectroscopic Detector Using Epitaxally Grown Single Crystal Thick CdTe Films2009

    • 著者名/発表者名
      M.Niraula, K.Yasuda, et al.
    • 雑誌名

      Mat.Res.Soc.Symp.Proc. 1164

      ページ: 35-44

    • 査読あり
  • [雑誌論文] MOVPE Growth of CdTe on Si Substrates for Gamma Ray Detector Fabrication2009

    • 著者名/発表者名
      M.Niraula, K.Yasuda, et al.
    • 雑誌名

      IEEE Trans.Nuclear Science 56(3)

      ページ: 836-840

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Electrical Properties of Iodine-Doped CdTe Epitaxial Films on Si Substrates Grown by MOVPE2009

    • 著者名/発表者名
      M.Niraula, K.Yasuda, et al.
    • 雑誌名

      IEEE Trans, Nuclear Science 56(4)

      ページ: 1731-1735

    • 査読あり
  • [学会発表] MOVPE法による大面積CdTeX線・γ線検出器に関する研究 (VIII)2010

    • 著者名/発表者名
      小川博久, 安田和人, 他
    • 学会等名
      第57回応用物理学関係連合講演会
    • 発表場所
      東海大学 湘南キャンパス
    • 年月日
      2010-03-19
  • [学会発表] Electrical properties of halogen-doped CdTe layers on Si substrates grown by metalorganic vapor phase epitaxy2009

    • 著者名/発表者名
      安田和人, ニラウラマダン, et al
    • 学会等名
      US Workshop on the Phys. & Chem.of II-VI Materials
    • 発表場所
      Chicago, USA
    • 年月日
      20091006-20091008
  • [学会発表] Development of X-ray, Gamma Ray Spectroscopic Detector Using Epitaxally Grown Single Crystal Thick CdTe Films2009

    • 著者名/発表者名
      ニラウラマダン, 安田和人, et al.
    • 学会等名
      Mat.Res.Soc.Symp.(Invited)
    • 発表場所
      San Francisco, USA
    • 年月日
      20090413-20090417
  • [学会発表] CdTe厚膜のMOVPE成長と放射線検出器への応用特性2009

    • 著者名/発表者名
      安田和人, ニラウラマダン, 他
    • 学会等名
      第70回応用物理学会学術講演会、(シンポジウム)
    • 発表場所
      富山大学
    • 年月日
      2009-09-09
  • [備考]

    • URL

      http://www-yasuda.elcom.nitech.ac.jp/

URL: 

公開日: 2011-06-16   更新日: 2016-04-21  

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