絶対仕事関数ナノスコープ

2009 年度 自己評価報告書

• 研究課題/領域番号: 19201022
• 研究種目: 基盤研究(A)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: ナノ材料・ナノバイオサイエンス
• 研究機関: 大阪電気通信大学
• 研究代表者: 越川 孝範 大阪電気通信大学, 工学部, 教授 (60098085)
• 研究期間 (年度): 2007 – 2010
• キーワード: ナノ計測 / ナノ表面界面

研究概要

仕事関数は古くから測定が行われてきた古典的な物理量であり、表面からの電子の放出を左右する基礎的な物理量であるために多くの研究者により測定が行われてきた。しかし,同じ物質でかつ同じ指数の表面でも測定により得られる仕事関数の値には大きなばらつきがある。その理由はいろいろと考えられる。まず測定者が作った表面が同じでない(つまり表面の汚染状態が同じでない)こと、測定を行うときに参照する試料の仕事関数の値が正確には決まっていない等が挙げられる。そこで本研究では、参照試料を必要としない「絶対仕事関数」を高分解能で得ることが出来る新しい高分解能「顕微鏡」の開発を行うことを目的としている。
測定の原理はいたって簡単であり、光電効果により光電子放出が起こる閾値のマッピングを行うものである。マッピングは光電子顕微鏡(PEEM)により行う。分光した単色の紫外線を励起源として、紫外線のエネルギー(波長)を変化させることにより空間分解された仕事関数が測定できる「絶対仕事関数ナノスコープ」が可能である。

研究成果

• [雑誌論文] Design of a Mirror Aberration Corrector and a Beam Separator for LEEM (2009)
  • 著者名/発表者名: K. Tsuno, T. Yasue, T. Koshikawa
  • 雑誌名: Appl.Surf.Sci. 256 ページ: 1035-1041
• [学会発表] PEEM Intensity on Surface Structure of Cu/W(110) (2008)
  • 著者名/発表者名: H. Shimizu, M. Hashimoto, A. Nakaguchi, T. Yasue, E. Bauer, T. Koshikawa
  • 学会等名: 5th Int. Symp. on Surf Sci. Nanotechnology
  • 発表場所: Tokyo
  • 年月日: 20081100
• [学会発表] Development of Absolute Work Function Microscope (2008)
  • 著者名/発表者名: T. Koshikawa, T. Yasue
  • 学会等名: 4th Vac. Surf. Sci. Conf. of Asia and Australia
  • 発表場所: Matsue
  • 年月日: 20081000
• [学会発表] Contrast Mechanism in PEEM on Cu/W(110) (2008)
  • 著者名/発表者名: H. Shimizu, M. Hashimoto, A. Nakaguchi, T. Yasue, E. Bauer, T. Koshikawa
  • 学会等名: 4th Vac. Surf. Sci. Conf of Asia and Australia
  • 発表場所: Matsue
  • 年月日: 20081000
• [備考]
  • URL: http://www.osakac.ac.jp/labs/kosikawa/
• [備考] 本研究の成果を含む国際会議での招待講演
• [備考] T. Koshikawa, The Development and Future of the Emission Microscope (基調講演), ICXOM 2007 (Kyoto, 2007. 9)
• [備考] T. Koshikawa, Past, Present and Future of LEEM/PEEM (基調講演), ALC'07 (Kanazawa, 2007. 10)
• [備考] T. Koshikawa, Dynamic Observation on Surfaces and New Development on LEEM/PEEM Instrumentation. ACSIN9 (Tokyo, 2007. 11)
• [備考] T. Koshikawa, LEEM/PEEM of Ultrathin Films, 2008 MRS Spring Meeting (San Francisco, 2008. 3)
• [備考] T. Koshikawa, Dynamic Observation and High Resolution Element Mapping Study with LEEM and SR-XPEEM, APMC-9 (Jeju, 2008. 11)
• [備考] T. Koshikawa, Dynamic Observation of Surfaces and New Development on LEEM/PEEM, PSI 2009 (Puri, 2009. 2)
• [備考] T. Koshikawa, Surface and Interface analysis with MEIS and LEEM/PEEM, HRDP-5 (Kyoto, 2009. 11)
• [備考] T. Koshikawa, Surface study with MEIS and LEEM/PEEM, IISC-18 (Gatlinburg, 2010. 9)