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2007 年度 実績報告書

プラズマ表面相互作用における光・ラジカル・電子照射素過程とそのシナジー効果の解明

研究課題

研究課題/領域番号 19204056
研究機関大阪大学

研究代表者

浜口 智志  大阪大学, 大学院・工学研究科, 教授 (60301826)

研究分担者 吉村 智  大阪大学, 大学院・工学研究科, 准教授 (40294029)
北野 勝久  大阪大学, 大学院・工学研究科, 助教 (20379118)
鹿田 真一  独立行政法人産業技術総合研究所, ダイヤモンド研究センター, 副センター長 (00415689)
山田 英明  独立行政法人産業技術総合研究所, ダイヤモンド研究センター, 研究員 (90443233)
キーワードプラズマ / 光物性 / 分子動力学 / 反応性ラジカル / プラズマCVD / プラズマエッチング
研究概要

プラズマエッチングやプラズマCVD(Chemical Vapor Deposition:化学蒸着)プロセスにおいて、高い運動エネルギーを持って物質表面に入射するイオンは、プラズマから同時に照射される光・ラジカル・電子の影響により、表面物質と極めて複雑な非平衡化学反応を、物質表面から数ナノメートルの深さの層(表面ナノ反応層)に誘起する。本研究では、数値シミュレーションと精密に制御された多種ビーム同時照射実験を用いてプラズマを「模擬」することにより、プラズマプロセスにおける、それぞれの入射種と物質との相互作用を明らかにするとともに、そのシナジー効果(反応素過程の重ね合わせが成り立たない非線形効果、即ち、反応の相乗効果)を明らかにして、高度に制御可能な新しいプラズマプロセスの構築を目指す。平成19年度は、新たに設置した質量分離イオンビーム・ラジカルビーム照射装置および既設の質量分離イオンビーム照射装置を用いることによって、Si02やPMMA等のエッチングにおけるイオン・紫外光同時照射による相乗効果の実験を行った。これらの実験により、たとえば、Si02のCF3イオンビーム入射エッチングのイールドが紫外光の同時照射によって下がること、また、逆にPMMAのスパッタリングイールドがCF3イオンビーム・紫外光同時照射によって、イオンビーム単独照射のときにくらべて上がることが確認された。また、MgOなどのイオン性結晶への質量分離低エネルギーイオン入射、および、表面帯電の影響を下げるために、イオン・電子同時入射などの実験をおこない、低エネルギー領域におけるスパッタイールドデータベースを構築した。

  • 研究成果

    (4件)

すべて 2008 2007

すべて 雑誌論文 (3件) (うち査読あり 3件) 学会発表 (1件)

  • [雑誌論文] 光照射を重畳したCF_3イオンビームによるSiO_2エッチング率の測2008

    • 著者名/発表者名
      幾世和将, 吉村智, 滝澤敏史, 唐橋一浩, 木内 正人, 浜口智志
    • 雑誌名

      真空 (印刷中)

    • 査読あり
  • [雑誌論文] 低エネルギー質量分離イオンビーム照射装置を用いたSiO_2/Si基板へのインジウムイオン注入2008

    • 著者名/発表者名
      日根清裕, 吉村智, 唐橋一浩, 木内正人, 浜口智志
    • 雑誌名

      真空 (印刷中)

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Measurement of Magnesium Oxide Sputtering Yields by He and Ar Ions with a Low-Energy Mass-Selected Ion Beam System2007

    • 著者名/発表者名
      K. Hine, S. Yoshimura, K. Ikuse, M. Kiuchi, J. Hashimoto, M. T Terauchi, M. Nishitani, S. Hamaguchi
    • 雑誌名

      Jpn. J. Applied Phys. 46

      ページ: L1132-L1134

    • 査読あり
  • [学会発表] 低エネルギー領域における酸化マグネシウム薄膜のスパッタ率測定2007

    • 著者名/発表者名
      日根清裕, 吉村智, 幾世和将, 木内正人, 橋本潤, 寺内正治, 西谷幹彦, 浜口智志
    • 学会等名
      第2回アトミック/ポリスケールテクノロジー連携研究会
    • 発表場所
      東京理科大学長万部キャンパス
    • 年月日
      2007-08-24

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公開日: 2010-02-04   更新日: 2014-11-17  

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