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2009 年度 研究成果報告書

ばらつきや欠陥を克服する集積回路ハードウェア設計技術

研究課題

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研究課題/領域番号 19300010
研究種目

基盤研究(B)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 計算機システム・ネットワーク
研究機関京都大学

研究代表者

小野寺 秀俊  京都大学, 情報学研究科, 教授 (80160927)

研究分担者 小林 和淑  京都工芸繊維大学, 工芸科学研究科, 教授 (70252476)
土谷 亮  京都大学, 情報学研究科, 助教 (20432411)
研究期間 (年度) 2007 – 2009
キーワード製造ばらつき / 製造容易化設計 / 高信頼化 / ディペンダブルVLSI
研究概要

製造容易性を向上させるとともにばらつきに強靭な構造を持つ論理回路の構造法と、ばらつきや欠陥の影響を救済する方法について検討した。ばらつき耐性と製造性を強化する方法としてレイアウトパターンの単純化と規則性向上に着目し、その定量的効果をシミュレーションと実測により明らかにした。フリップフロップがチップ内ばらつきに脆弱である事を解明し、ばらつきに強靭なフリップフロップを開発した。ばらつき量を測定するオンチップモニタ回路を開発した。

  • 研究成果

    (4件)

すべて 2010 2009

すべて 雑誌論文 (2件) (うち査読あり 2件) 学会発表 (2件)

  • [雑誌論文] Effect of Regularity-Enhanced Layout on Variability and Circuit Performance of Standard Cells2010

    • 著者名/発表者名
      Hiroki Sunagawa, Haruhiko Terada, Akira Tsuchiya, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
    • 雑誌名

      IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology vol.3

      ページ: 130-139

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Statistical Gate Delay Model for Multiple Input Switching2009

    • 著者名/発表者名
      Takayuki Fukuoka, Akira Tsuchiya, Hidetoshi Onodera
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals vol.E92-A,no.12

      ページ: 3070-3078

    • 査読あり
  • [学会発表] Process-sensitive Monitor Circuits for Estimation of Die-to-Die Process Variability2010

    • 著者名/発表者名
      A.K.M. Mahfuzul Islam, Akira Tsuchiya, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
    • 学会等名
      TAU Workshop 2010
    • 発表場所
      San Francisco
    • 年月日
      2010-03-18
  • [学会発表] Characterization of WID Delay Variability Using RO-array Test Structures2009

    • 著者名/発表者名
      Hidetoshi Onodera, Haruhiko Terada
    • 学会等名
      Proceedings 2009 8th IEEE International Conference on ASIC
    • 発表場所
      Changsha
    • 年月日
      2009-10-21

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公開日: 2011-06-18   更新日: 2016-04-21  

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