研究課題
基盤研究(B)
製造容易性を向上させるとともにばらつきに強靭な構造を持つ論理回路の構造法と、ばらつきや欠陥の影響を救済する方法について検討した。ばらつき耐性と製造性を強化する方法としてレイアウトパターンの単純化と規則性向上に着目し、その定量的効果をシミュレーションと実測により明らかにした。フリップフロップがチップ内ばらつきに脆弱である事を解明し、ばらつきに強靭なフリップフロップを開発した。ばらつき量を測定するオンチップモニタ回路を開発した。
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IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology vol.3
ページ: 130-139
IEICE Transactions on Fundamentals vol.E92-A,no.12
ページ: 3070-3078