| 研究課題/領域番号 |
19360027
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
応用光学・量子光工学
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| 研究機関 | 東京大学 |
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研究代表者 |
百生 敦 東京大学, 大学院・新領域創成科学研究科, 准教授 (20322068)
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| 研究分担者 |
矢代 航 東京大学, 大学院・新領域創成科学研究科, 助教 (10401233)
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| 研究期間 (年度) |
2007 – 2009
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| キーワード | X線顕微鏡 / シンクロトロン放射光 / 位相計測 / トモグラフィ / CT / 回折格子 / Talbot効果 / Talbot干渉計 |
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| 研究概要 |
X線Talbot干渉計を含め、X線透過格子を用いる微分位相計測技術と、フレネルゾーンプレートを用いたX線結像顕微鏡を組み合わせることにより、位相敏感X線顕微鏡の開発し、高分子材料や生体組織などの弱吸収物体の高感度・高分解能観察技術を立ち上げた。さらに、試料を回転させて複数の投影方向で撮影を繰り返し、試料内部構造の三次元屈折率分布画像の再構成(X線位相トモグラフィ)も実現した。
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