研究課題
基盤研究(B)
部材の応力および変形損傷を,実験室X線のエネルギー分散法によって評価するためのシステムを構築した.Moの回転アノードを用いて加速電圧を60kVとすることによって,60keVまでの白色X線を得ることができた.またGe半導体検出器を用いて,短時間に複数の回折プロファイルを得ることができた.これらを個々に解析することによって,回折面依存性の観点から材料特性評価が可能となった.
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