| 研究概要 |
電子線トモグラフィ法は、透過型電子顕微鏡を用いナノスケールで3次元形態を観察する手法である。本研究では、電子線トモグラフィ法をアルミニウム合金やセラミックスなど実用材料に応用し、ナノスケールでの3次元形態の解析と、マクロな機械・物理特性やその形成メカニズムを解明することを目的としている。平成20年度の主な成果は、以下の通りである。
1.アークプラズマ法を用いたTiN-Ag複合材料粉末の形態同定と形成について、微小電子プローブを用いたナノ構造解析法として注目を集めている走査透過電子顕微鏡法(STEM)と電子線トモグラフィ法を併用することにより解明することができ、口頭発表並びに論文発表を行った[Kitawaki他Micron, Vol.40(2009)pp.308-312]。
2.合金中におけるひずみの影響の3次元評価にさきがけ、 Al粉末とMg粉末から強ひずみ加工法を用いることによりAl-Mg合金を生成することに成功し、このAl-Mg合金中にMgが過飽和固溶することをXRDならびに透過型電子顕微鏡により解明し、並びに論文発表を行った[Kaneko他,Material Transactions,Vol.50, No.1(2009)pp.76-81]。
3.ケンブリッジ大学のP.A.Midgley教授と共同研究を行い、上記2件の研究成果のみならず、Si中の転位の3次元可視化に成功し、並びに論文発表を行った[Sharp他J. Phys.: Conf. Ser.126(2008)012013]。
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