高速VLSIのクロストーク故障に対する高信頼テスト手法に関する研究

2009 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 19500045
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 計算機システム・ネットワーク
• 研究機関: 愛媛大学
• 研究代表者: 樋上 喜信 愛媛大学, 大学院・理工学研究科, 准教授 (40304654)
• 研究分担者: 高橋 寛 愛媛大学, 大学院・理工学研究科, 准教授 (80226878)
• 研究期間 (年度): 2007 – 2009
• キーワード: VLSI(大規模集積回路) / テスト / 故障診断 / クロストーク故障

研究概要

本研究では,VLSI(大規模集積回路)におけるクロストーク故障を対象にしたテスト手法を提案した.クロストーク故障とは,隣接する2本の信号線が容量性結合することによるものである,従来の故障モデルを対象にしたテストでは検出されない.そこで,クロストーク故障の故障動作を詳細に解析し,モデル化を行い,テストパターンを生成する手法を提案した.さらに手法を拡張し,トランジスタショート故障に対する故障診断法やテストパターン生成法も提案した.

研究成果

• [雑誌論文] An Algorithm for Diagnosing Transistor Shorts Using Gate-level Simulation (2009)
  • 著者名/発表者名: Y. Higami, K.K. Saluja, H. Takahashi, S. Kobayashi, Y. Takamatsu
  • 雑誌名: IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology vol.2(in press) ページ: 250-262
• [雑誌論文] Addressing Defect Coverage through Generating Test Vectors for Transistor Defects (2009)
  • 著者名/発表者名: Y. Higami, K.K. Saluja, H. Takahashi, S. Kobayashi, Y. Takamatsu
  • 雑誌名: IEICE Trans. Fundamentals vol.E92-A,no.12 ページ: 3506-3513
• [学会発表] Increasing Defect Coverage by Generating Test Vectors for Stuck-open Faults (2008)
  • 著者名/発表者名: Y. Higami, K.K. Saluja, H. Takahashi, K. Kobayashi, Y. Takamatsu
  • 学会等名: Proc. IEEE Seventeenth Asian Test Symposium
  • 年月日: 2008-11-26
• [学会発表] スキャン回路におけるクロストーク故障の検出可能性について (2008)
  • 著者名/発表者名: 樋上喜信, 高橋寛, 廣瀬雅人, 小林真也, 高松雄三
  • 学会等名: 子情報通信学会総合大会
  • 年月日: 2008-03-18