次世代LSIのための信号劣化回避型テスト方式に関する研究

2008 年度 実績報告書

• 研究課題/領域番号: 19500047
• 研究機関: 九州工業大学
• 研究代表者: 温 暁青 九州工業大学, 大学院・情報工学研究院, 教授 (20250897)
• 研究分担者: 梶原 誠司 九州工業大学, 大学院・情報工学研究院, 教授 (80252592)
• キーワード: LSIテスト / 高信頼化

研究概要

本年度は、シフトのための信号劣化回避型テスト手法の提案(要素技術1)及びキャプチャのための信号劣化回避型テスト手法の提案(要素技術2)を目標に実施した結果、以下の研究成果を得ることができた。
研究成果1(シフトのための信号劣化回避型テスト手法)
テストデータとテスト応答をスキャンパスで伝送するシフト操作における論理回路内信号変化数を、1/N(Nは回路設計者が指定できるパラメータ)に削減するため、スキャンパス分割及び強制定数(論理0または論理1)入力という2つの手法を提案した。テスト入力データを変更せずシフト時の消費電力を大幅に削減することに成功した。
研究成果2(キャプチャのための信号劣化回避型テスト手法)
テスト応答を記憶素子に取り込むキャプチャ操作における論理回路内信号変化数を削減するため、(1)故障検出に必要でないクロックの停止、及び(2)動作フリップ・フロップの入出力値の同一化という2つの新しい手法を提案した。また、これらの新しいキャプチャ電力削減手法に合わせて、新しい未定値ビット(Xビット)判定手法をも開発した。これらの手法はテストキューブに存在する未定値ビットに最適な論理値を与えることによって行われるため、回路変更なしでキャプチャ時の消費電力を大幅に削減することができる。
上記のシフトのための信号劣化回避型テスト手法とキャプチャのための信号劣化回避型テスト手法について、2百万ゲート級実回路で実験した結果、信号劣化を完全に回避できることが確認された。

研究成果

• [雑誌論文] Estimation of Delay Test Quality and Its Application to Test Generation (2008)
  • 著者名/発表者名: S. Kajihara, S. Morishima, M. Yamamoto, X. Wen, M. Fukunaga, K. Hatayama, T. Aikyo
  • 雑誌名: IPSJ Transaction of System LSI Design Methodology 1 ページ: 104-115
  • 査読あり
• [雑誌論文] Low Capture Switching Activity Test Generation for Reducing IR-Drop in At-Speed Scan Testing (2008)
  • 著者名/発表者名: X. Wen, K. Miyase, T. Suzuki, S. Kajiihara, L. -T. Wang, K. K. Saluja, K. Kinoshita
  • 雑誌名: Journal of Electronic Testing : Theory and Applications, Special Issue on Low Power Testing 24 ページ: 379-391
  • 査読あり
• [雑誌論文] Test Strategies for Low-Power Devices (2008)
  • 著者名/発表者名: C. P. Ravikumar, M. Hirech, X. Wen
  • 雑誌名: Journal of Low Power Electronics 4 ページ: 127-138
  • 査読あり
• [学会発表] Power-Aware Test Generation for Reducing Yield Loss Risk in At-Speed Scan Testing (2009)
  • 著者名/発表者名: Y. Yainato, X. Wen, K. Miyase, H. Furukawa, S. Rajihara
  • 学会等名: Symposium II (ISTC/CSTIC) : Metrology, Reliability and Testing
  • 発表場所: Shanghai, China
  • 年月日: 2009-03-20
• [学会発表] CTX : A Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme for Reducing Yield Loss Risk in At-Speed Scan Testing (2008)
  • 著者名/発表者名: H. Furukawa, X. Wen, K. Miyase, Yuta Yamato, S. Kajihara, Patrick Girard, L. -T. Wang, M. Teharanipoor
  • 学会等名: IEEE Asian Test Symposium
  • 発表場所: Saporro, Japan
  • 年月日: 2008-11-27
• [学会発表] Effective IR-Drop Reduction in At-Speed Scan Testing Using Distribution-Controlling X-Identification (2008)
  • 著者名/発表者名: K. Miyase, K. Noda, H. Ito, K. Hatayama, T. Aikyo, Y. Yamato, H. Furukawa, X. Wen, S. Kajihara
  • 学会等名: IEEE/ACM Int'l Conf. on Computer Aided Design
  • 発表場所: San Jose, USA
  • 年月日: 2008-11-10
• [学会発表] GA-Based X-Filling for Reducing Launch Switching Activity in At-Speed Scan Testing (2008)
  • 著者名/発表者名: Y. Yamato, X. Wen, K. Miyase, H. Furukawa, S. Kajihara
  • 学会等名: IEEE Workshop on Defect and Date Driven Testing (D3T)
  • 発表場所: Santa Clara, USA
  • 年月日: 2008-10-30
• [学会発表] Identification of IR-drop Hot-spots in Defective Power Distribution Network Using TDF ATPG (2008)
  • 著者名/発表者名: J. Ma, J. Lee, M. Tehranipoor, X. Wen, A. Crouch
  • 学会等名: IEEE Workshop on Defect and Date Driven Testing (D3T)
  • 発表場所: Santa Clara, USA
  • 年月日: 2008-10-30
• [学会発表] Reducing Power Supply Noise in Linear-Decompressor-Based Test Data Compression Environment for At-Speed Scan Testing (2008)
  • 著者名/発表者名: Meng-Fan Wu, Jiun-Lang Huang, Xiaoqing Wen, Kohei Miyase
  • 学会等名: IEEE International Test Conference
  • 発表場所: Santa Clara, USA
  • 年月日: 2008-10-29
• [学会発表] A Capture-Safe Test Generation Scheme for At-Speed Scan Testing (2008)
  • 著者名/発表者名: X. Wen, K. Miyase, S. Rajihara, H. Furukawa, Y. Yamato, A. Takashima, K. Noda, H. It o, K. Hatayama, T. Aikyo, K. K. Saluia
  • 学会等名: IEEE European Test Symposium
  • 発表場所: Verbania, Italy
  • 年月日: 2008-05-26
• [産業財産権] 論理値決定方法及び論理値決定プログラム (2008)
  • 発明者名: 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司, 大和勇太
  • 権利者名: 九州工業大学
  • 産業財産権番号: 特願2008-211473
  • 出願年月日: 2008-08-02
• [産業財産権] 判別方法及びプログラム (2008)
  • 発明者名: 呉孟帆, 黄俊郎, 温暁青, 宮瀬紘平
  • 権利者名: 九州工業大学, 台湾大学
  • 産業財産権番号: 特願2008-273484
  • 取得年月日: 2008-10-23