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2009 年度 実績報告書

次世代LSIのための信号劣化回避型テスト方式に関する研究

研究課題

研究課題/領域番号 19500047
研究機関九州工業大学

研究代表者

温 暁青  九州工業大学, 大学院・情報工学研究院, 教授 (20250897)

研究分担者 梶原 誠司  九州工業大学, 大学院・情報工学研究院, 教授 (80252592)
キーワードLSIテスト / 高信頼化
研究概要

本年度は、圧縮スキャン環境における信号劣化を回避する手法の提案(要素技術3)及び要素技術(1~3)を融合した信号劣化回避型テスト方式の確立(総合技術)を目標に実施した結果、以下の研究成果が得られた。
研究成果1(圧縮スキャン環境における冗長ビット特定手法)
組合せ展開器を利用した圧縮スキャン環境に対応するため、被検査回路と組合せ展開器を一体化した回路モデルを構築した。その上で、故障検出に無関係な冗長ビットの抽出手法を提案した。この手法は、圧縮スキャン環境に適用できるだけではなく、冗長ビットの分布まで制御することができる。実回路ブロックを用いた実験では、圧縮率が1:8でも70%の冗長ビットを特定することに成功した。
研究成果2(クリティカルエリアに特化した(Pinoint型)キャプチャ電力削減手法)
被検査回路の中の、印加されたテストベクトルで活性化された長いパスの近傍のキャプチャ時テスト電力が異常に高い部分をクリティカルエリアとして抽出するという基本概念を提案した。更に、クリティカルエリアに影響を与える冗長ビットを抽出し、それにそのクリティカルエリア内のキャプチャ電力を減少させる論理値を決定する手法を提案した。これによって、誤テスト問題の根本原因を解決する有効な誤テスト回避方式を確立した。
研究成果3(要素技術の融合による信号劣化回避型テスト方式の確立)
今まで開発した要素技術を融合して信号劣化回避型テスト方式を実装したプロトタイプを構築した。また、1.2Mゲート級テスト回路の論理設計及びレイアウト設計を行い、評価実験を行った。その結果、本研究で提案された一連の信号劣化回避技術の有効性を確認することができた。

  • 研究成果

    (12件)

すべて 2010 2009 その他

すべて 雑誌論文 (3件) (うち査読あり 3件) 学会発表 (7件) 図書 (1件) 備考 (1件)

  • [雑誌論文] シグナルインテグリティ考慮型LSIテストを目指して2009

    • 著者名/発表者名
      温暁青
    • 雑誌名

      信頼性学会誌 31

      ページ: 498-505

    • 査読あり
  • [雑誌論文] High Launch Switching Activity Reduction in At-Speed Scan Testing using CTX : A Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme2009

    • 著者名/発表者名
      K.Miyase, X.Wen, H.Furukawa, Y.Yamato, S.Kajihara, P.Girard, L.-T.Wang, M.Tehranipoor
    • 雑誌名

      IEICE Trans. Inf.& Syst. E93-D

      ページ: 2-9

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Power Supply Noise Reduction for At-Speed Scan Testing in Linear-Decompression Environment2009

    • 著者名/発表者名
      M.-F.Wu, J.-L.Huang, X.Wen, K.Miyase
    • 雑誌名

      IEEE Trans. on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 28

      ページ: 1767-1776

    • 査読あり
  • [学会発表] CAT(Critical-Area-Targeted) : A New Paradigm for Reducing Yield Loss Risk in At-Speed Scan Testing2010

    • 著者名/発表者名
      X.Wen, K.Enokimoto, K.Miyase, S.Kajihara, M.Aso, H.Furukawa
    • 学会等名
      Symposium II(ISTC/CSTIC) : Metrology, Reliability and Testing
    • 発表場所
      Shanghai, China
    • 年月日
      2010-03-19
  • [学会発表] A Path Selection Method for Delay Test Targeting Transistor Aging2010

    • 著者名/発表者名
      M.Noda, S.Kajihara, Y.Sato, K.Miyase, X.Wen, Y.Miura
    • 学会等名
      IEEE Int' 1 Workshop on Reliability Aware System Design and Test
    • 発表場所
      Bangalore, India
    • 年月日
      2010-01-08
  • [学会発表] X-Identification According to Required Distribution for Industrial Circuits2009

    • 著者名/発表者名
      I.Beppu, K.Miyase, Y.Yamato, X.Wen, S.Kajihara
    • 学会等名
      IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      Hong Kong
    • 年月日
      2009-11-27
  • [学会発表] CAT : A Critical-Area-Targeted Test Set Modification Scheme for Reducing Launch Switching Activity in At-Speed Scan Testing2009

    • 著者名/発表者名
      K.Enokimoto, X.Wen, Y.Yamato, K.Miyase, H.Sone, S.Kajihara, M.Aso, H.Furukawa
    • 学会等名
      IEEE Asian Test Symp.
    • 発表場所
      Taichung, Taiwan
    • 年月日
      2009-11-24
  • [学会発表] On Calculation of Delay Range in Fault Simulation for Test Cubes2009

    • 著者名/発表者名
      Y.Yamato, X.Wen, K.Miyase, H.Furukawa, S.Kajihara
    • 学会等名
      IEEE 15th Pacific Rim Int' 1 Symp.on Dependable Computing, Automation, and Test
    • 発表場所
      Shanghai, China
    • 年月日
      2009-11-17
  • [学会発表] A Novel Post-ATPG IR-Drop Reduction Scheme for At-Speed Scan Testing in Broadcast-Scan-Based Test Compression Environment2009

    • 著者名/発表者名
      K.Miyase, K.Noda, H.Ito, K.Hatayama, T.Aikyo, Y.Yamato, X.Wen, S.Kajihara
    • 学会等名
      IEEE/ACM Int'1 Conf.on Computer Aided Design
    • 発表場所
      San Jose, USA
    • 年月日
      2009-11-02
  • [学会発表] On Calculation of Delay Range in Fault Simulation for Test Cubes2009

    • 著者名/発表者名
      S.Oku, S.Kajihara, K.Miyase, X.Wen, Y.Sato
    • 学会等名
      Int' 1 Symp.on VLSI Design, Automation, and Test
    • 発表場所
      Hsinchu, Taiwan
    • 年月日
      2009-04-29
  • [図書] Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices(Chapter 3 : Low-Power Test Generation)2009

    • 著者名/発表者名
      X.Wen, S.Wang
    • 総ページ数
      51
    • 出版者
      Springer(New York, USA)
  • [備考]

    • URL

      http://aries3a.cse.kyutech.ac.jp/

URL: 

公開日: 2011-06-16   更新日: 2016-04-21  

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