電位規制界面XAFSによる溶存物質の局所構造と分布の直接測定

2008 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 19550080
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 分析化学
• 研究機関: 東京工業大学
• 研究代表者: 原田 誠 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 助教 (60313326)
• 研究分担者: 岡田 哲男 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 教授 (20183030)
• 研究期間 (年度): 2007 – 2008
• キーワード: XAFS / 固液界面 / 気液界面 / 電位規制表面 / 膜吸着 / 熱レンズ

研究概要

水溶液中で起こる物質の変化や電極に対する吸着を、電極電位を規制しながら、XAFS法、および熱レンズ法で吸着量や吸着化学種、およびその吸着構造変化等を観察することを試みた。
導電性のある透明な膜であるITOを蒸着したガラス板とダブプリズムを用いて、ITO電極に印加する電位によって塩化金酸イオンが金コロイドに還元される様子を熱レンズとサイクリックボルタモグラム両面から観測した。また、陽イオン性界面活性膜を用いて溶存イオンの表面膜への吸着挙動を全反射XAFS法によって見積もった。

研究成果

• [雑誌論文] Evacuation of Counteranions from Langmuir Monolayers of Double tailed Quaternary Ammonium Ions into Subphase at High Surface Pressures as Studied by Total Reflection X ray Absorption Spectrometry (2009)
  • 著者名/発表者名: Harada, Makoto ; Okada, Tetsuo
  • 雑誌名: J. Phys. Chem. C (印刷中)
• [学会発表] 熱レンズXAFSの開発 (2009)
  • 著者名/発表者名: 佐藤春彦、原田誠、岡田哲男
  • 学会等名: 日本化学会
  • 発表場所: 日本大学理工学部船橋キャンパス
  • 年月日: 2009-03-29
• [学会発表] 全反射蛍光XAFS法による液液界面イオン吸着構造へのアプローチ (2008)
  • 著者名/発表者名: 原田誠、岡田哲男
  • 学会等名: 分析化学会第56年会
  • 発表場所: 徳島大学常三島キャンパス
  • 年月日: 2008-09-21
• [学会発表] 全反射全電子収量XAFS法による表面膜への吸着挙動の観察 (2008)
  • 著者名/発表者名: 原田誠、岡田哲男
  • 学会等名: 分析化学会第57年会
  • 発表場所: 福岡大学七隈キャンパス
  • 年月日: 2008-09-11
• [学会発表] 光熱変換分光法による界面状態の観測 (2008)
  • 著者名/発表者名: 佐藤春彦、原田誠、岡田哲男
  • 学会等名: 分析化学会第57年会
  • 発表場所: 福岡大学七隈キャンパス
  • 年月日: 2008-09-11
• [学会発表] 表面膜に対する溶存イオンの吸着挙動 (2008)
  • 著者名/発表者名: 原田誠、岡田哲男
  • 学会等名: 第61回コロイドおよび界面化学討論会
  • 発表場所: 九州大学六本松キャンパス
  • 年月日: 2008-09-09
• [備考]
  • URL: http://www.chemistry.titech.ac.jp/~okada