白色干渉法による摩擦・潤滑下の真実接触部の可視化

2008 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 19560135
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 設計工学・機械機能要素・トライボロジー
• 研究機関: 東京農工大学
• 研究代表者: 山本 隆司 東京農工大学, 大学院・共生科学技術研究院, 教授 (60015120)
• 研究分担者: 江口 正夫 東京農工大学, 大学院・共生科学技術研究院, 助教 (00111625)
• 研究期間 (年度): 2007 – 2008
• キーワード: 白色光干渉法 / 液晶 / 真実接触 / 輝度ヒストグラム / 可視化 / PIV / 固着と滑り

研究概要

真実接触部の可視化可能な光学系を構築し, 摩擦力との同時測定可能な回転型試験機を開発して, 以下の結果を得た.(1) 液晶使用時の非流体潤滑下で摩擦に及ぼす印加電圧の影響を確認した.(2) 潤滑下において,サファイヤ板と高輝度LED照明の使用によって真実接触部を明瞭に確認できた. また, 往復動摩擦試験機によって,(3) 無潤滑摺動下の粗面ゴム試験片のPIV(粒子画像流速測定法)解析を行い, 真実接触点の固着率を測定した.

研究成果

• [雑誌論文] Measurement of Real contact Area and Analysis of Stick/Slip Region (2009)
  • 著者名/発表者名: Masao Eguchi, Takashi Shibamiya, Takashi Yamamoto
  • 雑誌名: Tribology International (in press)
  • 査読あり
• [学会発表] Analysis of Area and Stick/Slip Region of Real Contact Using (2009)
  • 著者名/発表者名: Masao Eguchi
  • 学会等名: White Light Interferometry 3rd Vienna International Conference on Nano-Technology
  • 発表場所: Vienna
  • 年月日: 2009-03-17
• [学会発表] 非流体潤滑領域における液晶の摩擦特性に関する研究 (2008)
  • 著者名/発表者名: 茂木正博
  • 学会等名: 日本トライボロジー学会
  • 発表場所: 名古屋
  • 年月日: 2008-09-18
• [学会発表] 滑り出しと往復動過程における真実接触部の挙動解析 (2008)
  • 著者名/発表者名: 青木隆
  • 学会等名: 日本トライボロジー学会
  • 発表場所: 名古屋
  • 年月日: 2008-09-18
• [学会発表] 光干渉輝度値を用いた滑り出し時の真実接触部における固着・滑り解析 (2008)
  • 著者名/発表者名: 江口正夫
  • 学会等名: 日本トライボロジー学会
  • 発表場所: 名古屋
  • 年月日: 2008-09-18
• [学会発表] Measurement of the Area and Visualization of the Stick/Slip Region of Real Contact Using White Light Interferometry (2008)
  • 著者名/発表者名: Masao Eguchi
  • 学会等名: 35th Leeds-Lyon Symposium on Tribology
  • 発表場所: Leeds
  • 年月日: 2008-09-11
• [学会発表] 白色干渉法による真実接触部の面積測定と固着・滑り領域の可視化 (2008)
  • 著者名/発表者名: 江口正夫
  • 学会等名: 日本機械学会
  • 発表場所: 横浜
  • 年月日: 2008-08-05
• [学会発表] 白色光干渉輝度値を用いた真実接触面積測定 (2008)
  • 著者名/発表者名: 芝宮孝
  • 学会等名: 日本トライボロジー学会
  • 発表場所: 東京
  • 年月日: 2008-05-12
• [学会発表] 白色干渉輝度値を用いた無潤滑往復動下の真実接触部解析 (2007)
  • 著者名/発表者名: 芝宮孝
  • 学会等名: 日本トライボロジー学会
  • 発表場所: 東京
  • 年月日: 2007-05-29
• [学会発表] 白色スペーサー干渉法とHSV色空間を利用したすきま測定 (2007)
  • 著者名/発表者名: 佐野貴宏
  • 学会等名: 日本トライボロジー学会
  • 発表場所: 東京
  • 年月日: 2007-05-29
• [産業財産権] 接触面積測定装置および接触面積測定方法 (2008)
  • 発明者名: 江口正夫, 芝宮孝, 宮崎知之
  • 権利者名: 東京農工大学,NSK ワーナー株式会社
  • 産業財産権番号: 特許出願2008-199469
  • 出願年月日: 2008-08-01
• [産業財産権] 接触面積測定装置および接触面積測定方法 (2008)
  • 発明者名: 江口正夫, 芝宮孝, 澤柳学
  • 権利者名: 東京農工大学,NSK ワーナー株式会社
  • 産業財産権番号: 特許出願 2008-067584
  • 出願年月日: 2008-03-17