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2008 年度 実績報告書

ソフトエラー対策VLSI回路の考案

研究課題

研究課題/領域番号 19560335
研究機関千葉大学

研究代表者

伊藤 秀男  千葉大学, 大学院・融合科学研究科, 教授 (90042647)

研究分担者 難波 一輝  千葉大学, 大学院・融合科学研究科, 助教 (60359594)
キーワードソフトエラー / VLSI / ラッチ / スキャン設計 / テスト容易化設計
研究概要

本研究の平成20年度の目的は,(a)ソフトエラー(SE)対策VLSI回路の考案,(b)SE対策回路のテストとテスト容易化設計,(c)考案回路の定量的有効性評価を行うことである,この研究の1年間の成果として,雑誌論文発表2件,国際会議発表4件,国内口頭発表4件を行った(「11.研究発表」参照).
(a)に関してはSE対策ラッチを考案した.普通のSE対策ラッチでは,SEパルス幅がある一定値(δとする)以下のときSEをマスクできるが,δより幅が大きいエラーパルス入力はマスクも検出もできずに誤って出力する.そこで,パルス幅がδ以下のエラー入力はマスクし,δより幅が大きいエラー入力は検出することができるSE対策ラッチを考案した.
(b)に関してはSEを含むシグナルインテグリティ対策回路について2種類の研究を行った.1種類目は,SE耐性をもつラッチでありながら,ハードウェアオーバヘッドが小さく,かつエンハンスドスキャン遅延故障検出ができる特性をもつラッチの提案である.2種類目は,2線式論理回路と2重系回路の遅延故障検出テストの具体的な導出方法と印加方法を与え,その有効なテスト実行方式を提案した.
(c)に関しては2つの研究を行った.1つ目の研究では,耐SE対策ラッチにおいて検出できない固定故障が発生した場合に,このラッチはどの程度SE耐性があるかを定量的に評価した.2つ目の研究は調査研究であり,従来に提案されたSE対策ラッチをエラー対策手法に基づいて以下の4つの種類に分類した.(1)トランジスタの型によるエラー方向性の利用,(2)ノードへの異なる信号源からの入力,(3)空間冗長の利用,(4)時間冗長の利用

  • 研究成果

    (10件)

すべて 2009 2008

すべて 雑誌論文 (2件) (うち査読あり 2件) 学会発表 (8件)

  • [雑誌論文] Design for Delay Fault Testability of 2-Rail Logic Circuits2009

    • 著者名/発表者名
      Kentaroh Katoh, Kazuteru Namba, Hideo Ito
    • 雑誌名

      IEICE Trans. Inf. & Syst. E92-D

      ページ: 336-341

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Design for Delay Fault Testability of Dual Circuits Using Master and Slave Scan Path2009

    • 著者名/発表者名
      Kentaroh Katoh, Kazuteru Namba, Hideo Ito
    • 雑誌名

      IEICE Trans. Inf. & Syst. E92-D

      ページ: 433-442

    • 査読あり
  • [学会発表] Path Delay Fault Test Set for Two-Rail Logic Circuits2008

    • 著者名/発表者名
      Kazuteru Namba, Hideo Ito
    • 学会等名
      2008 14^<th> IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC2008)
    • 発表場所
      Taipei
    • 年月日
      2008-12-15
  • [学会発表] 遅延故障テスト容易化SHEラッチにおけるエンハンスドスキャンテスト2008

    • 著者名/発表者名
      難波一輝, 伊藤秀男
    • 学会等名
      電子情報通信学会, 機能集積情報システム研究会
    • 発表場所
      奈良市
    • 年月日
      2008-10-31
  • [学会発表] Soft Error Hardened FF Capable of Detecting Wide Error Pulse2008

    • 著者名/発表者名
      Shuangyou Ruan, Kazuteru Namba, Hideo Ito
    • 学会等名
      23^<rd> IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT2008)
    • 発表場所
      Boston
    • 年月日
      2008-10-02
  • [学会発表] Delay Fault Testability on Two-Rail Logic Circuits2008

    • 著者名/発表者名
      Kazuteru Namba, Hideo Ito
    • 学会等名
      23^<rd> IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT2008)
    • 発表場所
      Boston
    • 年月日
      2008-10-02
  • [学会発表] Design for Delay Fault Testing of 2-Rail Logic Circuits2008

    • 著者名/発表者名
      Kentaroh Katoh, Kazuteru Namba, Hideo Ito
    • 学会等名
      Indonesia-Japan Joint Scientific Symposium 2008
    • 発表場所
      Chiba
    • 年月日
      2008-09-10
  • [学会発表] ソフトエラーラッチの調査と分類2008

    • 著者名/発表者名
      坂田雅俊, 難波一輝, 伊藤 秀男
    • 学会等名
      電子情報通信学会, 機能集積情報システム研究会
    • 発表場所
      筑波市
    • 年月日
      2008-06-27
  • [学会発表] 幅の広いエラーパルス検出機能を有する耐ソフトエラーFF2008

    • 著者名/発表者名
      阮 双玉, 難波一輝, 伊藤 秀男
    • 学会等名
      電子情報通信学会, ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      東京
    • 年月日
      2008-04-23
  • [学会発表] ソフトエラーラッチの検出不可能な固定故障の影響2008

    • 著者名/発表者名
      中島健吾, 難波一輝, 伊藤秀男
    • 学会等名
      電子情報通信学会, ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      東京
    • 年月日
      2008-04-23

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公開日: 2010-06-11   更新日: 2016-04-21  

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