研究課題
基盤研究(C)
本研究では、透かし入り画像に対する画像処理や攻撃に対応して、電子透かしシステムの検出部を補正することにより透かし情報の検出精度を上げるという立場で、ロバストな電子透かしシステムの設計についてベイズ推定手法を用いて検討を行った。このような立場をとることにより、 電子透かしシステムが現状で耐性をもたないような画像処理や攻撃を受けた場合、及び、将来新たな画像処理や攻撃を受けた場合でも電子透かしが正確に検出できるようになると期待される。
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Proc. of 2007 European Conference on Circuit Theory and Design (ECCTD2007) (CD-ROM)
ページ: 408-411
ページ: 184-187
