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2007 年度 実績報告書

拡張隣接グラフとニューラルネットを応用したバイオメトリック情報からの特徴抽出

研究課題

研究課題/領域番号 19560403
研究機関東京工業高等専門学校

研究代表者

大塚 友彦  東京工業高等専門学校, 電子工学科, 教授 (80262278)

研究分担者 青木 宏之  東京工業高等専門学校, 電子工学科, 教授 (20249759)
キーワード拡張隣接グラフ法 / 候補点解析法 / 指紋特異点検出 / コア / デルタ / 隆線 / 指紋 / 検出精度
研究概要

指紋画像上の隆線の渦の中心(コア)や三角州状パターン(デルタ)は指紋の特異点となる。従来法の指紋のコアとデルタの検出精度を劣化させる原因として、指紋隆線の局所的なひずみ、画像のかすれやにじみ等が位置検出、並びに、コアとデルタの誤判別に大きく影響することも明らかになっている。今年度は、指紋画像の特徴点であるコアとデルタの抽出手法を改善し、検出精度を100%に近づけることを目標とした。そこで、本研究では、大局的な隆線情報を解析するために用いた拡張隣接グラフと共に、局所的な隆線方向を解析して諮問特異点となる確立の高い点(候補点)を抽出し、指紋隆線の対極的情報と局所的情報を共に用いて指紋特異点抽出を行う手法を提案する。劣化を含む実際の指紋画像6,400枚(FVC2000,FVC2002)について指紋特異点抽出実験を行ったところ、平均91%の検出率となり、従来法のポアンカレ法や隣接グラフ法よりも高い検出率となることが確認された。

  • 研究成果

    (2件)

すべて 2007

すべて 雑誌論文 (1件) (うち査読あり 1件) 学会発表 (1件)

  • [雑誌論文] Fingerprint Core and Delta Detection by Candidate Analysis2007

    • 著者名/発表者名
      T. Ohtsuka, Daisuke Watanabe, Hiroyuki Aoki
    • 雑誌名

      Proceedings of IAPR Conference on Machine Vision Applications (MVA2007)

      ページ: 130-134

    • 査読あり
  • [学会発表] 候補点解析による劣化指紋画像からの高精度特異点抽出手法2007

    • 著者名/発表者名
      渡辺大輔, 大塚友彦
    • 学会等名
      八王子市産学連携機構第7回研究成果発表講演会要旨集
    • 発表場所
      八王子市学園都市センター
    • 年月日
      2007-12-08

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公開日: 2010-02-04   更新日: 2016-04-21  

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